[发明专利]强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置无效
| 申请号： | 201210543690.6 | 申请日： | 2012-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN103869164A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 罗蓉蓉;李鹏远;韩石磊;廖敏;陈辉;杨淑娟;周晓璐;康道安;许丹;张博 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院;中国国际核聚变能源计划执行中心 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 包海燕 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 压力 状态 陶瓷 涂层 绝缘 电阻 测试 装置 | ||
1.一种强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，包括绝缘基座(1)、涂层表面电阻屏蔽装置(3)、压力传递装置(7)、导电电极(4、5)以及绝缘电阻测试系统(8)；其特征在于：
上表面涂有陶瓷涂层(2)的试样设置于绝缘基座(1)上方，涂层表面电阻屏蔽装置(3)覆盖于试样上方，压力传递装置(7)与涂层表面电阻屏蔽装置(3)相接触，用于对陶瓷涂层(2)施压；两个导电电极(4、5)穿过涂层表面电阻屏蔽装置(3)，设置于涂层表面(2)上方，导电电极(4、5)连接入绝缘电阻测试系统(8)。
2.根据权利要求1所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：所述绝缘基座(1)为平板状、管状或柱状绝缘体。
3.根据权利要求1或2所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：所述涂层表面电阻屏蔽装置(3)为片状绝缘体。
4.根据权利要求1或2所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：所述压力传递装置(7)包括压头(6)和压力传感器：压头与涂层表面电阻屏蔽装置(3)相接触，用于对陶瓷涂层(2)施压；压力传感器用于检测压头对陶瓷涂层(2)所施的压力大小。
5.根据权利要求4所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：所述压力传递装置(7)形成确定载荷施加于陶瓷涂层(2)表面，载荷范围为0~500MPa。
6.根据权利要求1或2所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：所述绝缘电阻测试系统(8)采用直流恒电流源和数字电压表实现。
7.根据权利要求1或2所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：所述陶瓷涂层(2)、涂层表面电阻屏蔽装置(3)、压力传递装置(7)与涂层表面电阻屏蔽装置(3)相接触的端面，三者截面面积相同。
8.根据权利要求1或2所述的强压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置，其特征在于：压力传递装置(7)与涂层表面电阻屏蔽装置(3)相接触的端面设有绝缘层。
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