[发明专利]一种布线检测方法及检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及液晶制造领域，尤其涉及一种布线检测方法及检测系统。

背景技术

随着印刷电路板（Printed Circuit Board；PCB）工艺的不断进步，印刷电路板布线的线宽和线间距越来越小，以便满足不同产品的电路板需求和节省电路板的宽间。但是由于布线的宽度及线间的间距都非常小，容易发生断路或短路的现象，从而对生产造成困扰。为了解决这一问题，现有技术中一般采用电学测试的方法，以检测电路板布线是否存在短路或断路的情况。

但是电学测试的方法只能检测电路板布线是否存在短路或断路，而无法反馈出电路板上布线中存在短路或断路缺陷的具体坐标位置，进而造成不良品无法及时发现，影响产线的生产效率。

发明内容

本发明的目的是提供一种方法布线检测方法及检测系统，以解决问题现有技术中电学测试无法检测反馈电路板缺陷具体位置的问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明实施例提供一种布线检测方法，步骤如下：

预先根据金板建立用于测试的坐标系和数据信息，所述数据信息包括用于检测布线断路的测试点的坐标、用于检测所述布线与相邻布线之间短路的测试点的坐标组和用于识别布线的预设光照反馈值；

根据所述坐标系、所述测试点的坐标和所述预设光照反馈值，光学扫描待检测电路板的当前待检测布线，判断所述当前待检测布线在所述测试点的坐标位置是否断路；以及，

根据所述坐标系、所述测试点的坐标组和所述预设光照反馈值，光学扫描所述当前待检测布线至相邻待检测布线，判断所述当前待检测布线与所述相邻待检测布线之间是否短路。

优选的，预先在所述待检测电路板上设置机读码，并将所述机读码的坐标保存在所述数据信息中，所述机读码用于标识所述待检测电路板上的待检测布线。

优选的，检测所述当前待检测布线断路的步骤如下：

根据所述坐标系查找所述机读码的坐标，以命中所述当前待检测布线；

根据所述待检测布线的所述测试点的坐标，光学扫描待检测电路板的所述当前待检测布线，当扫描到的光照反馈值是所述预设光照反馈值时，所述当前待检测布线在所述测试点的坐标的位置正常；扫描到的光照反馈值不是所述预设光照反馈值时，所述当前待检测布线在所述测试点的坐标的位置断路。

优选的，检测所述当前待检测布线与相邻待检测布线之间短路的步骤如下：

根据所述坐标系查找所述机读码的坐标，以命中所述当前待检测布线；

根据所述测试点的坐标组，光学扫描待检测电路板的所述当前待检测布线至所述相邻待检测布线，当扫描到的所述坐标组之间的所述光照反馈值不具有所述预设光照反馈值时，所述当前待检测布线与所述相邻待检测布线在所述测试点的坐标组之间未短路；当扫描到的所述坐标组之间的所述光照反馈值具有所述预设光照反馈值时，所述当前待检测布线与所述相邻待检测布线在所述测试点的坐标组之间短路。

优选的，还包括根据所述当前待检测布线在所述测试点的坐标位置是否断路的判断结果，以及所述当前待检测布线与所述相邻待检测布线之间在所述测试点的坐标组之间是否短路的结判断果，输出扫描数据或扫描图形。

优选的，所述机读码为所述光学检测设备能够识别的二维码或掩膜板图形。

本发明的有益效果如下：通过光学检测电路板布线，实现布线缺陷位置的准确定位，提高产线良品率和生产效率。

本发明实施例提供一种布线检测系统，

预设单元，用于预先根据金板建立用于测试的坐标系和数据信息，所述数据信息包括用于检测布线断路的测试点的坐标、用于检测所述布线与相邻布线之间短路的测试点的坐标组和用于识别布线的预设光照反馈值；

光学扫描单元，用于根据所述坐标系、所述测试点的坐标和所述预设光照反馈值，扫描待检测电路板的当前待检测布线；或者，根据所述坐标系、所述测试点的坐标组和所述预设光照反馈值，扫描所述当前待检测布线至相邻待检测布线；

判断单元，用于判断所述当前待检测布线在所述测试点的坐标位置是否断路；或者，用于判断所述当前待检测布线与所述相邻待检测布线之间是否短路。

优选的，所述预设单元还用于预先在所述数据信息中设置机读码的坐标；其中，所述机读码设置在所述待检测电路板上，用于标识所述待检测电路板上的待检测布线。

优选的，还包括：

所述光学扫描单元，具体用于根据所述坐标系查找所述机读码的坐标，以命中所述当前待检测布线；根据所述待检测布线的所述测试点的坐标，扫描待检测电路板的所述当前待检测布线；