[发明专利]探针检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种探针检测装置，尤其涉及一种具有扳手避位槽的探针检测装置。

背景技术

电子探针(Electron Microprobe)，全名为电子探针X射线显微分析仪，又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，都可进行定性和定量分析。

电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线，测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定性或定量分析。将扫描电子显微镜和电子探针结合，在显微镜下把观察到的显微组织和元素成分联系起来，解决材料显微不均匀性的问题，成为研究亚微观结构的有力工具。

电子探针有三种基本工作方式：点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析，以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。

电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。

电子探针主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3(锂)至92(铀)。绝对感量可达10-14至10-15g。近年形成了扫描电镜-显微分析仪的联合装置，可在观察微区形貌的同时逐点分析试样的化学成分及结构。

由于具有以上特点及优点，电子探针广泛应用于冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用，是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。

同时，电子探针在产品的装配检测方面也发挥了重要作用。请参阅图1所示，图1为现有用于USB连接器的探针检测装置的立体图，所述探针检测装置9包括绝缘座91、固定在绝缘座内的探针92、设置在绝缘座上的扳手93及开设在绝缘座前端的元件插口94。检测时，向下按压扳手自由端930，被检测元件可以插入元件插口内，此时被检测元件与探针前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以检测被检测元件的相应指标。然而，现有探针检测装置的弊端是显而易见的：扳手93自由端的操作空间不足，导致按压操作难度大，操作工时长，生产效率低下。因此，如何克服扳手93自由端操作空间不足以便于操作，进而提高生产效率，便成为业界急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有扳手避位槽的探针检测装置。

为实现上述发明目的，本发明的探针检测装置，包括：绝缘座、固定在绝缘座内的探针、设置在绝缘座上的扳手及开设在绝缘座前端的元件插口，所述绝缘座上设有扳手避位槽，检测时，所述避位槽的存在可以保证很容易地向下按压扳手自由端，以使被检测元件插入元件插口内，此时被检测元件与探针前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以检测被检测元件的相应指标。

作为本发明的进一步改进，所述扳手避位槽设置于扳手自由端的下方。

作为本发明的进一步改进，所述扳手避位槽系由绝缘座后端的上表面下沉而成。

作为本发明的进一步改进，所述避位槽沿绝缘座长度方向贯穿绝缘座后端。

作为本发明的进一步改进，所述扳手的自由端延伸至避位槽上方以便于按压。

作为本发明的进一步改进，所述扳手的自由端不超过避位槽的长度。

作为本发明的进一步改进，所述扳手的材质为铝合金。

作为本发明的进一步改进，所述扳手的材质为黄铜。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：所述绝缘座靠近扳手自由端处设有避位槽，从而为扳手的下压提供了操作空间，可以减少操作难度、缩短操作工时、提升生产效率。

附图说明

图1为现有的探针检测装置的立体图；

图2为本发明的探针检测装置的立体图；

图3为本发明的探针检测装置另一角度的立体图；

图4为本发明的探针检测装置的扳手的平面图。

具体实施方式

下面结合附图所示的各实施方式对本发明进行详细说明，但应当说明的是，这些实施方式并非对本发明的限制，本领域普通技术人员根据这些实施方式所作的功能、方法、或者结构上的等效变换或替代，均属于本发明的保护范围之内。