[发明专利]采用磷埋层及浓磷埋层技术的双极横向PNP管制作工艺有效
申请号: | 201210535643.7 | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN103094104A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 朱伟民;邓晓军;沈健雄 | 申请(专利权)人: | 无锡友达电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 214028 江苏省无锡市国家*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 磷埋层 浓磷埋层 技术 横向 pnp 制作 工艺 | ||
1. 一种采用磷埋层及浓磷埋层技术的双极横向PNP管制作工艺,其特征在于,该工艺包括如下步骤:
1)投料: 采用P型基片,晶向为<100>;
2)氧化: 在基片表面氧化,氧化层厚度为7000 ?~8000 ?;
3)磷埋层光刻、注入: 在横向PNP管埋层区部位注入磷,注入能量 80 KeV~100KeV,注入剂量6E14~8E14 Atoms/cm2,杂质为磷;
4)磷埋层退火: 退火温度为1100℃~1200℃ ,先通300~320分钟氮气,再通90~110分钟氧气;
5)硼埋层光刻、注入: 在横向PNP管硼埋区部位注入硼,注入能量80 KeV~ 100KeV ,注入剂量2E14~4E14 Atoms/cm2,杂质为硼;
6)浓磷埋层光刻、注入: 在横向PNP管基区部位注入浓磷,注入能量80 KeV~100KeV ,注入剂量2E15~3E15 Atoms/cm2,杂质为磷;
7)浓磷埋层退火: 退火温度1100℃~1150℃,通入80~100分钟氮气;
8) N型外延: 在横向PNP管基区部位外延,厚度7~9微米,电阻率1~3Ω·cm;
9)深磷扩散: 扩散部位为PNP管基区,深磷预扩1050℃~1080℃,先通3~5分钟氮气和氧气,接着通15~25分钟磷源,最后通46分钟氮气和氧气;深磷再扩为1100℃~1150℃,先通3~5分钟氧气,接着通70~80分钟氢气和氧气,最后通4~6分钟氧气;
10)隔离扩散: 扩散部位为隔离槽,目的是与硼埋层对通,隔离预扩为800℃~950℃,先通5~8分钟氮气和氧气,接着通15~20分 钟硼源,最后通8~12分钟氮气和氧气,隔离再扩为1150℃~1200℃,通入10~12分钟氮气和氧气;
11)基区注入: 注入部位为基区、电阻区, 基区注入能量为50KeV~80 KeV,剂量为5E14~8E14 Atoms/cm2,杂质为硼;
12)浓硼注入: 注入区域为横向PNP管发射区、集电区,注入能量为60KeV,剂量为8.0E14 Atoms/cm2,杂质为硼;
13)基区退火: 退火温度1050℃~1100℃,通入40~60分钟氮气,
14)N+扩散: 扩散部位为横向PNP管基极欧姆接触区,N+予扩为850℃~950℃,先通3~5分钟氮气和氧气,接着通9~15分钟磷源,最后通4~6分钟氮气和氧气;N+再扩为1000℃~1150℃,先通3~5分钟氧气,接着通30~50分钟氢气和氧气,最后通4~6分钟氧气;
15)接触孔光刻、腐蚀: 采用湿法的方法刻蚀,以形成良好的表面状态;
16)一铝溅射: 在基片表面上溅射1.5~2.5微米铝硅铜;
17)介质淀积: 在基片表面上淀积18000~22000埃氮化硅;
18)通孔光刻、刻蚀: 刻出一铝与二铝之间连接的通孔区域,
19)二铝溅射: 溅射2.0~3.5微米铝硅铜,采用厚铝;
20)压点光刻、刻蚀: 刻出芯片压点区域。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造