[发明专利]采用磷埋层及浓磷埋层技术的双极横向PNP管制作工艺有效

专利信息
申请号: 201210535643.7 申请日: 2012-12-12
公开(公告)号: CN103094104A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 朱伟民;邓晓军;沈健雄 申请(专利权)人: 无锡友达电子有限公司
主分类号: H01L21/331 分类号: H01L21/331
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 214028 江苏省无锡市国家*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 采用 磷埋层 浓磷埋层 技术 横向 pnp 制作 工艺
【权利要求书】:

1. 一种采用磷埋层及浓磷埋层技术的双极横向PNP管制作工艺,其特征在于,该工艺包括如下步骤:

1)投料:               采用P型基片,晶向为<100>;

2)氧化:               在基片表面氧化,氧化层厚度为7000 ?~8000 ?;

3)磷埋层光刻、注入:    在横向PNP管埋层区部位注入磷,注入能量 80 KeV~100KeV,注入剂量6E14~8E14 Atoms/cm2,杂质为磷;

4)磷埋层退火:          退火温度为1100℃~1200℃ ,先通300~320分钟氮气,再通90~110分钟氧气;

5)硼埋层光刻、注入:  在横向PNP管硼埋区部位注入硼,注入能量80 KeV~ 100KeV ,注入剂量2E14~4E14 Atoms/cm2,杂质为硼;

6)浓磷埋层光刻、注入:   在横向PNP管基区部位注入浓磷,注入能量80 KeV~100KeV ,注入剂量2E15~3E15 Atoms/cm2,杂质为磷;

7)浓磷埋层退火:       退火温度1100℃~1150℃,通入80~100分钟氮气;

8) N型外延:            在横向PNP管基区部位外延,厚度7~9微米,电阻率1~3Ω·cm;

9)深磷扩散:           扩散部位为PNP管基区,深磷预扩1050℃~1080℃,先通3~5分钟氮气和氧气,接着通15~25分钟磷源,最后通46分钟氮气和氧气;深磷再扩为1100℃~1150℃,先通3~5分钟氧气,接着通70~80分钟氢气和氧气,最后通4~6分钟氧气;

10)隔离扩散:          扩散部位为隔离槽,目的是与硼埋层对通,隔离预扩为800℃~950℃,先通5~8分钟氮气和氧气,接着通15~20分 钟硼源,最后通8~12分钟氮气和氧气,隔离再扩为1150℃~1200℃,通入10~12分钟氮气和氧气;

11)基区注入:         注入部位为基区、电阻区, 基区注入能量为50KeV~80 KeV,剂量为5E14~8E14 Atoms/cm2,杂质为硼;

12)浓硼注入:          注入区域为横向PNP管发射区、集电区,注入能量为60KeV,剂量为8.0E14 Atoms/cm2,杂质为硼;

13)基区退火:        退火温度1050℃~1100℃,通入40~60分钟氮气,

14)N+扩散:          扩散部位为横向PNP管基极欧姆接触区,N+予扩为850℃~950℃,先通3~5分钟氮气和氧气,接着通9~15分钟磷源,最后通4~6分钟氮气和氧气;N+再扩为1000℃~1150℃,先通3~5分钟氧气,接着通30~50分钟氢气和氧气,最后通4~6分钟氧气;

15)接触孔光刻、腐蚀: 采用湿法的方法刻蚀,以形成良好的表面状态;

16)一铝溅射:        在基片表面上溅射1.5~2.5微米铝硅铜;

17)介质淀积:        在基片表面上淀积18000~22000埃氮化硅;

18)通孔光刻、刻蚀:  刻出一铝与二铝之间连接的通孔区域,

19)二铝溅射:        溅射2.0~3.5微米铝硅铜,采用厚铝;

20)压点光刻、刻蚀:  刻出芯片压点区域。

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