[发明专利]同轴检测光正入射获得干涉图像的装置无效
申请号: | 201210532930.2 | 申请日: | 2012-12-11 |
公开(公告)号: | CN102980873A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 吕彦飞;董渊;李述涛;刘冬;刘会龙;金光勇;张喜和 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01B11/26;G01K11/20 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
地址: | 130022 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 同轴 检测 入射 获得 干涉 图像 装置 | ||
1.一种同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,包括检测光光源(6)和干涉条纹图像接收装置,其特征在于,前圆周透镜(7)与后圆锥透镜(8)二者同轴且圆锥顶角相对,前圆锥透镜(7)的底面朝向检测光光源(6),前圆锥透镜(7)及后圆锥透镜(8)均沿圆锥轴线开通孔,检测光入射轴线与该通孔轴线同轴;光阑(9)位于在后圆锥透镜(8)底面上,光阑(9)的通光孔轴线与所述通孔轴线同轴;在后圆锥透镜(8)底面一侧的光路上与检测光入射轴线成45°角安置前平面镜(10),后平面镜(11)与前平面镜(10)平行,过二者几何中心的轴线与检测光入射轴线垂直;前平面镜内镜面a及后平面镜内镜面c膜系对检测光具有高反射率、对于泵浦光和振荡激光具有高透射率,前平面镜外镜面b及后平面镜外镜面d膜系对于泵浦光和振荡激光具有高透射率;检测光出射轴线与检测光入射轴线平行且过后平面镜(11)几何中心;正透镜(12)位于检测光出射光路上,正透镜(12)光轴与检测光出射轴线同轴;干涉条纹图像接收装置为CCD摄像机(13),CCD摄像机(13)感光面位于正透镜(12)成像焦平面上。
2.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,检测光光源(6)包括He-Ne激光器(19)和准直透镜(20),检测光波长为632.8 nm。
3.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,前圆周透镜(7)与后圆锥透镜(8)是两个相同的圆锥透镜,该两个圆锥透镜底面相距距离D;透镜材料为K9玻璃,n=1.5168;圆锥透镜高度D0=5 mm,锥面母线与圆锥底面的夹角γ=10°;前圆锥透镜(7)及后圆锥透镜(8)的通孔直径d0=3 mm。
4.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,光阑(9)孔径范围为0 mm<d<10mm。
5.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,后圆锥透镜(8)底面与前平面镜(10)几何中心的距离为50 mm;后平面镜(11)几何中心与正透镜(12)几何中心间的距离为80 mm。
6.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,前平面镜内镜面a、前平面镜外镜面b、后平面镜内镜面c、后平面镜外镜面d膜系同时对泵浦光808 nm波长和振荡激光1064 nm波长的透射率大于等于99 %;并且,前平面镜内镜面a、后平面镜内镜面c膜系还对检测光632.8 nm波长的反射率大于99 %。
7.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,正透镜(12)的两个通光面为凸球面,并且,膜系对检测光632.8 nm波长的透射率大于等于99 %,焦距f=50 mm。
8.根据权利要求1所述的同轴检测光正入射获得干涉图像的装置,其特征在于,CCD摄像机(13)感光面尺寸为6.4 mm×4.8 mm,像素数为811(H)×508(V)。
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