[发明专利]平面回波成像方法及系统无效

专利信息
申请号: 201210532251.5 申请日: 2012-12-11
公开(公告)号: CN103163496A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 吴垠;江克;刘伟;刘新;郑海荣 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01R33/561 分类号: G01R33/561
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 平面 回波 成像 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种平面回波成像方法,其特征在于,包括以下步骤:

将K空间划分成多个子空间;

对所述多个子空间进行欠采样,得到K空间数据;

对所述K空间数据进行重建得到重建图像。

2.根据权利要求1所述的平面回波成像方法,其特征在于,所述将K空间划分成多个子空间步骤为:根据K空间的能量分布进行划分多个子空间。

3.根据权利要求1所述的平面回波成像方法,其特征在于,所述欠采样为沿相位编码方向进行随机欠采样。

4.根据权利要求1所述的平面回波成像方法,其特征在于,所述欠采样集中在所述K空间的中心部分。

5.根据权利要求1所述的平面回波成像方法,其特征在于,根据压缩感知稀疏成像理论对所述K空间数据进行重建得到重建图像。

6.一种平面回波成像系统,其特征在于,包括:

划分模块,用于将K空间划分成多个子空间;

欠采样模块,用于对所述多个子空间进行欠采样,得到K空间的数据;

重建模块,用于对所述K空间数据进行重建得到重建图像。

7.根据权利要求6所述的平面回波成像系统,其特征在于,所述划分模块根据K空间的能量分布进行划分多个子空间。

8.根据权利要求6所述的平面回波成像系统,其特征在于,所述欠采样模块沿相位编码方向进行随机欠采样。

9.根据权利要求6所述的平面回波成像系统,其特征在于,所述欠采样模块集中在所述K空间的中心部分进行采样。

10.根据权利要求6所述的平面回波成像系统,其特征在于,所述重建模块根据压缩感知稀疏成像理论对所述K空间数据进行重建得到重建图像。

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