[发明专利]电化学光学联用原位研究光谱池有效
申请号: | 201210527794.8 | 申请日: | 2012-12-10 |
公开(公告)号: | CN103033474A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 刘晋;姚和华;袁长福;李劼 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N27/30;G01N21/25 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人: | 邓建辉 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电化学 光学 联用 原位 研究 光谱 | ||
技术领域
本发明涉及一种光谱池,特别是涉及一种电化学与光学联用的原位检测电化学反应过程中电极固液界面分子行为的光谱池。
背景技术
锂离子电池在首次及前几次的充放电过程中,负极表面会形成一层钝化膜,称之为SEI膜。SEI膜可以让锂离子通过,却不能让电子通过,可以阻止溶剂分子在电极表面的进一步嵌入,从而对提高锂离子电池的循环性能、倍率性能、可逆容量以及安全性能都有十分重要的作用。
由于SEI膜对锂离子电池有非常重要的作用,已经越来越引起人们的关注。虽然人们已经对SEI膜进行了大量的研究,但大多数的研究都是非在线的,非在线的研究方法有如下缺点:
1.由于SEI膜组成与结构对环境的敏感性,不能准确反映电极反应过程中甚至是结束后SEI膜的原位状态。
2.即使能反映SEI膜的最终组成,但不能反映电极过程中电极界面SEI膜的具体形成过程和动态演变机理。
3.无法获得电极反应过程中溶液一侧的界面微观信息,如双电层结构的变化规律和分子行为,及其与SEI膜形成和演变的相互关系。
4.无法解析电极界面微观行为与电极过程动力学和热力学宏观参数的相互影响机制。
所以,在线研究锂离子电池负极表面SEI膜的形成机理是当前SEI膜研究的热点,只有采用在线研究的方法,才能深入解析电极在不同工作状态下(如电极电位、电流密度、工作温度、过充和过放等)电极反应中的微观过程,明确地调控SEI膜、双电层等界面结构,认识电池性能的宏观差别的微观机理,打破宏观层面认识的局限性,为高效地提高电池性能提供新的理论指导。
中国科学院化学研究所提出一种原位薄层光谱电化学反应池,采用半圆柱形氟化钙晶体作为窗片,可以适应多个入射光角度,同时通过螺纹对工作电极的调节,使得窗片与工作电极之间的距离减小到8微米左右,极大地减少了溶液对光谱信号的吸收,可以有效地对电化学体系进行原位的光谱表征(CN 102539328A),但是这样溶液仍会对光谱信号产生一定的影响。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种能避免溶液对光谱信号的吸收的电化学光学联用原位研究光谱池。
为了解决上述技术问题,本发明提供的电化学光学联用原位研究光谱池,包括池体、半圆柱形晶体透光窗片、样品台和参比电极,所述的半圆柱形晶体透光窗片的底平面镀有一层厚度为纳米级的活性物质薄膜作为工作电极,所述的样品台设于与所述的工作电极相对的所述的池体的底部,所述的参比电极通过导电胶固定在所述的样品台上与所述的工作电极相对设置。
所述的工作电极的材质采用ZnS、Si、SnS2中的一种,既可以满足锂离子的脱嵌,又有利于光线的透过,避免溶液对光谱信号的吸收。
所述的工作电极的厚度为50纳米~100纳米。
所述的半圆柱形晶体透光窗片的材质采用SiO2、CaF2、Al2O3中的一种,电化学光学联用原位研究过程中,既有利于光线的透过,又可以作为电化学反应中工作电极的集流体。
所述的样品台采用样品台紧固螺栓设于与所述的工作电极相对的所述的池体的底部。
所述的参比电极通过所述的样品台紧固螺栓引出有导线,所述的池体上设有导线引出口。
所述的样品台的高度可通过采用不同规格样品台的方法调节,以便调节电化学反应正负极片之间的距离。
上述的光谱池中,所述池体上有进液口与出液口,以便通过电解质的流动更新来维持电解质组分的稳定。
所述的样品台采用不锈钢制成,参比电极可以通过导电胶与样品台固定,然后通过紧固螺栓引出导线,工作电极也引出导线,从而光谱池可以与电化学工作站联用。
采用上述技术方案的电化学光学联用原位研究光谱池,工作原理是以固定在样品台上的电极作为对电极和参比电极,以镀在半圆柱形晶体透光窗片底平面的活性物质作为工作电极,通过将透光窗片与样品台上的导线与电化学工作站相连,模拟出电池工作体系,再通过透光窗片对固液界面进行原位光谱表征。
本发明同样采用半圆柱形晶体作为透光窗片,但是采用薄层活性物质作为工作电极,并且将活性物质直接镀在半圆柱形晶体透光窗片的底平面上,厚度仅为纳米级,这样在用光谱表征时就完全避免了溶液对光谱信号的吸收,并且可从样品台紧固螺栓和半圆柱形晶体透光窗片引出导线,从而实现光谱池与电化学工作站联用,可以更加有效地对电化学体系进行原位光谱表征。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中南大学,未经中南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210527794.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种布线检测方法及检测系统
- 下一篇:滤清器测漏机