[发明专利]一种TD-LTE系统的干扰检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及下一代宽带无线通信技术领域，尤其涉及一种在TD-LTE系统下的干扰检测方法。

背景技术

目前，3G(3^rd Generation，第三代移动通信系统)网络在国内已经商用并迅速普及，而在4G(4^th Generation，第四代移动通信系统)标准方面，中国拥有自主知识产权的TD-LTE标准的商用也已经提上了日程，因此为TD-LTE网络的建设寻找一种高效的规划和优化方法是备受关注的问题。

在TD-LTE系统中，随机接入过程的目的是使用户终端设备(UE)与网络建立连接或是使UE获得上行同步。只有在随机接入过程完成后，UE和eNodeB才可以进行正常的数据传输和接收。根据LTE规范，LTE-TDD系统采用的是非同步随机接入过程。在进行初始的非同步的物理随机接入过程之前，物理层从高层接收随机接入信道参数。

为了保证不同覆盖情况下随机接入检测的性能，TD-LTE系统中给出了如图1所示的随机接入前导序列的序列格式，具体参数如表1所示。

表1

前导序列格式T_CPT_SEQFormat 03168T_S24576T_Sformat 121024T_S24576T_Sformat 26240T_S59152T_Sformat 321024T_S59152T_Sformat 4448T_S4096T_S

format 0～3是TDD系统和FDD系统所共有，而前导序列格式format 4为LTE-TDD所独有的，并且只在特殊时隙，上行导频时隙(UpPTS)中进行传输。由于UpPTS上不存在物理上行控制信道(PUCCH)，采用了特别的机制：从上行频域的边际开始，连续分布，在两次UpPTS之间采用跳频的方式获得频率分集增益，如图2所示。

现有的干扰源查找技术有：基于导频信号的干扰检测方法，该方法根据导频信号的接收功率来判断整个频段的干扰情况，在系统不同地方插入导频信号，利用导频信号功率设定干扰检测门限，由于导频信号占用系统子载波，从而降低了频谱利用率。

基于接收信号瞬时功率的干扰检测方法，该方法使用接收信号的瞬时功率生成功率检测因子与接收系列作相关性检测，要时刻提取信号的瞬时功率做相关性运算，运算量大。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种省时、省力、经济的TD-LTE系统的干扰检测方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种TD-LTE系统的干扰检测方法，该方法包括以下步骤：