[发明专利]具有复用引脚的芯片

说明书

【技术领域】

本发明涉及电路设计领域，特别涉及一种具有复用引脚的芯片。

【背景技术】

现有技术中电源管理芯片(或称集成电路)通常用一个独立管脚(或称为引脚PIN)来设定测试模式。当该管脚被连到电源，则电源管理芯片进入测试模式；当该管脚接地时，电源管理芯片进入正常工作模式。

通常，测试模式对于电源管理芯片的意义很大。例如，当芯片检测到测试模式，可以缩短一些正常功能中很长时间的延迟时间(例如正常工作模式下某个功能延时长达2秒，这对于芯片测试时间太长了，成本无法接受，例如可以缩短到1毫秒)，从而快速验证其功能是否正确，进而减少测试时间，减小了测试成本。此外，测试模式也可以被利用来测量由于测试设备限制无法直接测量的芯片性能参数，例如直流-直流转换器通常无法加电感在量产测试中测量其反馈电压，通过测试模式下将误差放大器的输出连接到其负输入端，形成闭环，则可以间接测量到正常工作模式下反馈节点的电压。

但对封装管脚紧张的情况而言，增加管脚会增大封装尺寸，这样会增加印刷电路板尺寸，不利于小型化设计；同时更大的封装意味着更高的封装成本。

因此有必要提供一种改进的技术方案来克服上述问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种具有复用引脚的芯片，该复用引脚可以用作测试引脚，也可以用作其它引脚，这样减少了芯片的引脚，减小封装面积。

为了解决上述问题，本发明提供一种复用引脚的芯片，该芯片包括有一个复用引脚，在该复用引脚用作除测试引脚外的另一种引脚时，该复用引脚的电压大于第一阈值电压或者小于第二阈值电压，在该复用引脚的电压为小于第一阈值电压且大于第二阈值电压时，则使得所述芯片进入测试模式，此时认为该复用引脚用作测试引脚，其中第一阈值电压大于第二阈值电压。

进一步的，所述芯片中包括测试模式判定电路，该测试模式判定电路用于判定所述复用引脚的电压是否小于第一阈值电压且大于第二阈值电压，若是，则使得所述芯片进入测试模式，否则，则不使得所述芯片进入测试模式。

进一步的，所述芯片中还包括计时模块，该计时模块在所述复用引脚的电压小于第一阈值电压且大于第二阈值电压时对此种状态进行计时，如果计时达到一个时间阈值，才使得所述芯片进入测试模式，否则，则不使得所述芯片进入测试模式。

进一步的，所述芯片中包括测试模式判定电路和计时模块，所述测试模式判定电路用于将所述复用引脚的电压与第一阈值电压和第二阈值电压进行比较，在所述复用引脚的电压小于第一阈值电压且大于第二阈值电压时输出测试使能信号，在所述复用引脚的电压大于第一阈值电压或小于第二阈值电压时输出非测试使能信号，所述计时模块在所述测试模式判定电路输出测试使能信号时开始计时，在计时达到一个时间阈值，该计时模块输出测试模式信号，使得所述芯片进入测试模式，否则所述计时模块输出非测试模式信号。

进一步的，所述测试模式判定电路包括第一比较电路、第二比较电路和逻辑电路，第一比较电路比较所述复用引脚的电压和第一电压阈值，并输出第一比较结果；第二比较电路比较所述复用引脚的电压和第二电压阈值，并输出第二比较结果；所述逻辑电路将第一比较结果和第二比较结果进行逻辑运算后输出测试使能信号或非测试使能信号。

进一步的，第一比较电路包括依次串联于电源端和地之间的PMOS场效应晶体管和第一电流源，该PMOS场效应晶体管的栅极连接所述复用引脚，所述PMOS场效应晶体管和第一电流源的中间节点作为输出端输出第一比较结果，第一阈值电压为电源端的电压减去PMOS场效应晶体管的导通电压阈值的绝对值，第二比较电路包括依次串联于电源端和地之间的第二电流源和NMOS场效应晶体管，该NMOS场效应晶体管的栅极连接所述复用引脚，所述NMOS场效应晶体管和第二电流源的中间节点作为输出端输出第二比较结果，其中第二阈值电压为NMOS场效应晶体管的导通电压阈值，所述逻辑电路包括第一反相器、或非门和第二反相器，该第一反相器的输入端接第一比较器的输出端，其输出端接所述或非门的一个输入端，所述或非门的另一个输入端接第二比较器的输出端，其输出端接所述第二反相器的输入端，该第二反相器的输出端输出测试使能信号或非测试使能信号。

更进一步的，所述计时模块包括多个级联的D触发器，每个D触发器的输入端d与其反相输出端qb相连，其复位端r与所述第二反相器的输出端相连，第一个D触发器的时钟端CK与时钟信号CLK连接，其输出端q与第二个D触发器的时钟端CK相连，中间的D触发器的输出端q与后一个D触发器的时钟端CK相连，最后一个D触发器的输出端q输出测试模式信号或非测试模式信号。