[发明专利]用于结合表面分析和整体分析的检查和/或分类的过程和设施无效
申请号: | 201210518474.6 | 申请日: | 2012-12-05 |
公开(公告)号: | CN103149372A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 安托万·鲍喏利;大卫·毛呐伊若克;简·路易斯·科塔兹;弗雷德里克·加勒特;本杰明·布兰姆培 | 申请(专利权)人: | 佩朗精品工艺股份有限公司;萨瓦大学 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01B21/08 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 李世喆 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 结合 表面 分析 整体 检查 分类 过程 设施 | ||
技术领域
本发明涉及行进的物体、物件或类似物、特别是废料的快速表征的领域,用于对它们进行区分和/或对它们进行评估的目的,本发明的本身的目标包括:用于对物体、物件或类似物进行检查和/或自动分类的过程和设施。
背景技术
在前述领域范围内已经提出多种解决方案。
这样,已经开发出多种在表面上或以轻微渗透方式测量的过程,用于自动分离应用。
在示例中,FR-A-2895688描述一种用于对非金属物体进行检查和分类的过程和自动化机器,其中,在传送器带上行进的每个物体的上层暂时地经历热辐射。然后执行对物体的热图分析,以确定物体的类型。这种技术特别地用于对纸、纸板等进行区分。这种区分过程的局限在于,不可能在光面(light)或涂层纸板(平坦纸板)与特定杂志之间进行区分。实际上,杂志封皮如果较厚,则与光面或涂层纸板具有相同的热行为。这样,在分类过程中,杂志将被认为是光面或涂层纸板,并因而将不会被合理回收。这种过程遭遇的第二种局限是,与在传送器带上行进的物体的潮湿度相关。潮湿的物体具有的行为与干的物体不同,如果潮湿水平越大,则不同越大。
EP-A-124350描述一种使用红外波谱的表面分析系统。这种系统可以区别不同类别的物体,例如不同塑料(PET、PETG、PS、ABS,等等)的物体。物体的波谱表面分析能够实现这种区别。
另外,已经开发出可以测量物体厚度的其它过程。这些过程使用透射(transmission)技术,例如不同的X射线或伽玛射线技术,或者较低能量技术,例如超高频。
在超高频的领域,已经提出具有材料表征系统的多种专利。
存在特定的使用微波辐射的这些系统,用于测量潮湿度,例如在US-A-5845529和US-A-5333493所述。这些美国专利申请公开的系统可以测量厚的包/捆的干产品,例如在上述提及的第一个美国文献中的成包/捆的烟草、棉花、木材,也可以测量在上述提及的第二个美国文献中的煤炭的潮湿水平。对此,微波信号可被发送穿过将被测量的物体。通过测量幅度和相位,于是可确定被检测物体的潮湿水平。我们注意到,这些测量除了区别潮湿水平的不同之外,并未用于区别不同组分的包/捆。
其它存在的出版物呈现出可以进行材料表征的在超高频领域的解决方案。在示例中,可提到文献FR-A-2906369,其中描述一种超高频设备,用于检查和探测基本上均质材料(例如成卷的玻璃纤维绝缘材料)中的缺陷。这种设备包括发射系统,以辐照将被表征的物体。在接收侧,天线阵列能够收集被发射的信号。根据信号的幅度和相位,可以确定缺陷。
最后,已经公开了不同技术的特定关联。这种情况的示例如下,在文献US-A-20100085066中,超高频技术与X射线技术相结合,以检查机场的多件行李。在此文献中,超高频技术能够增大行李的检查速度。多件行李首先经历超高频分析。这种分析能够获得在传送器上行进的行李件的影像。如果超高频分析显示不确定性,则此件行李经历另外的和独立的通过X射线的分析。由于通过软件视点的超高频分析更易于安置就位,因而这种技术关联能够增大检查速率,这是因为,仅有可疑的行李件通过X射线分析。
发明内容
本发明的基本目的包括:提出一种解决方案,在本文开始指出的应用环境中能够以显著方式改进对行进(例如在传送器上行进)的物体、物件或类似物进行分类的质量和/或对其特定特征或特定参数进行测量的精度。所提出的解决方案在必要时还必须允许对所述流的材料类型或待评估特征进行总体量化。
为此目的,本发明的第一目标在于提供一种自动过程,用于对物体、物件或类似物进行检查和/或分类,所述物体、物件或类似物属于至少两个不同类别并且形成为基本在单一层中行进,例如在传送器带或类似运送支撑部上行进,过程的特征在于,其包括:使行进流的物体、物件或类似物经历至少两种不同类型的通过辐射进行的无接触分析,所述分析的结果以结合(combined)方式用于每个物体、物件或类似物,以执行在这些物体、物件或类似物中的区分和/或对这些物体、物件或类似物的至少一个特征的评估,所用的分析一方面包括能够确定在此过程中暴露于所使用辐射的物体或类似物的上层或外层的物理和/或化学组分的至少一个表面分析过程,另一方面包括能够确定相同的物体或类似物的材料的等效厚度的至少一个整体(volume)分析过程。
在此文件中,等效厚度是指:在不考虑可能的间隙的情况下、假定材料在可见表面下保持相同时,表面要素(element)的竖直设置材料的总量。
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