[发明专利]一种单板测试方法、装置及系统

说明书

技术领域

本发明涉及设备检测技术领域，特别是涉及一种单板测试方法、装置及系统。

背景技术

在通信设备的生产和安装过程中，需要进行设备检测，检测设备各元器件的完好性、连通性和功能。现有常用的设备检测方法有两种。

一种现有技术是：采用专门的测试仪。将测试仪与待测设备通过硬件建立连接，测试仪产生报文进行测试，报文经由待测设备，最后回到测试仪进行报文检查。在测试仪中可配置一条流或多条流，具体配置项为每条流的报文长度、报文头、报文内容、速率、发包个数等；其中，一条流是指具有相同源地址、目的地址、传输路径、以及中间处理过程的一组报文。通过配置报文头来决定每条流的传输路径；在测试仪中按流进行报文统计，统计项包括发送包数、发送字节数、接收包数、接收字节数；通过对比发送统计和接收统计，来确定待测设备是否通过该项测试。

但是，该现有技术一的缺点是：测试仪价格昂贵，使得测试成本比较高。

另一种现有技术是：在待测设备上集成BIST（Built-In Self Test，内建自测）功能。具体的，内置测试单元，由测试单元产生测试报文，报文在待测设备内部流动，最后回到测试单元进行报文检查。该BIST功能由可编程逻辑器件实现，可支持一条流或多条流，每条流的报文长度、速率和个数可配置；每条流的报文头、报文内容可存储于可编程逻辑器件的RAM或外挂SDRAM中；用户可以通过配置命令，触发BIST开始发包，并统计发包个数、收包个数；根据统计结果确定该待测设备是否通过测试。

但是，该现有技术二的缺点是：只能实现对集成了BIST功能的待测设备进行测试，对不具备BIST功能的设备无法实现测试。

发明内容

本发明提供了一种单板测试方法、装置及系统，不需要外设测试仪，即可实现对不具备内建自测BIST功能的设备进行测试，从而降低测试成本。

第一方面，提供一种单板测试方法，包括：在陪测单板中配置至少一条流，每条所述流的报文头中携带有指向被测单板的目的地址和指向所述陪测单板的源地址；所述陪测单板依据每条所述流的报文头中携带的所述目的地址，通过交换网络将报文转发至所述目的地址指向的被测单板上，并统计发送报文数量；其中，所述交换网络包含至少一个所述被测单板和至少一个所述陪测单板；接收所述被测单板处理后的报文，并统计接收报文数量和出错报文数量，根据所述发送报文数量、接收报文数量以及所述出错报文数量，确定所述被测单板的测试结果。

在第一方面的第一种可能的实现方式中，如果所述陪测单板和被测单板处于同一设备框内的不同槽位，则所述目的地址至少包含所述被测单板的一个板号；所述源地址至少包含所述陪测单板的板号。

在第一方面的第二种可能的实现方式中，如果所述陪测单板和被测单板处于不同设备框内时，则所述目的地址至少包含所述被测单板所在的设备框号和被测单板的一个板号；所述源地址至少包含所述陪测单板所在的设备框号和陪测单板的板号。

在第一方面的第三种可能的实现方式中，统计所述出错报文数量具体为：对接收到的所述处理后的报文逐条进行校验，统计得到出错报文的数量；对所述处理后的报文进行校验具体为：对所述处理后的报文进行计算，得到一处理后的校验码，将所述处理后的校验码与所述报文的报文头中预置的原始校验码进行比对，若不一致，确认所述报文出错。

结合第一方面的第三种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，所述对所述处理后的报文进行计算为：对所述处理后的报文的全部内容或部分内容进行计算。

结合上述第一方面的任何一种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，所述根据所述发送报文数量、接收报文数量以及所述出错报文数量，确定所述被测单板的测试结果，包括：如果所述接收报文数量等于发送报文数量、且所述出错报文数量为零，确定所述被测单板通过测试；否则，确定所述被测单板未通过测试。

结合第一方面的第一至四种可能的实现方式，在第一方面的第六种可能的实现方式中，每条所述流能够通过所述陪测单板中的内建自测BIST模块独立地被启动或停止。

结合第一方面的第六种可能的实现方式，在第一方面的第七种可能的实现方式中，每条所述流能够通过所述陪测单板中的内建自测BIST模块独立地被启动或停止，包括：在所述陪测单板中的BIST模块中为配置的每条所述流分别设置一对应的逻辑开关；通过所述逻辑开关独立地启动和停止该逻辑开关对应的流。