[发明专利]航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法

权利要求书

1.一种航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、对航天器用元器件热真空环境进行应力分析，确定热真空环境地面试验的真空应力、热应力和电应力；

S2、确定热真空地面试验的循环次数；

S3、根据步骤S1和S2确定的试验条件对航天器用元器件进行热真空地面试验，以判定航天器用元器件样品是否合格，所述试验条件包括所述真空应力、热应力、电应力和循环次数；

S4、若不合格样品数小于等于抽样方案规定的合格判定数，则评价所试验的该批元器件的热真空环境适应性满足任务要求；否则评价为不满足任务要求。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S2具体包括：

S21：确定航天器舱内最劣情况下的温度范围ΔT₂；

S22：根据所述热应力和所述温度范围ΔT₂计算热真空环境试验的加速因子AF；

S23：根据航天器运行周期和任务执行时间，以及所述加速因子AF确定热真空地面试验的循环次数N。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，

AF=ΔT1qΔT2]]>

其中，ΔT₁为元器件试验的极限温差，根据所述热应力得到，q表示与元器件材料工艺相关的常数。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，

N=（y/x）/AF

其中，x表示航天器运行周期，y表示航天器任务执行时间。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，当（y/x）/AF计算出结果为小数时，采取只入不舍的原则取整。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，步骤S3中，每次试验针对一批航天器用元器件进行，试验时，元器件采用批允许不合格品率LTPD抽样方法，根据任务末期元器件生存概率进行选择。

7.如权利要求1~6中任一项所述的方法，其特征在于，步骤S3中，若试验过程中或试验后出现以下情况之一，则判定元器件为不合格：1)试验过程中出现放电、飞弧或有害电晕；2)试验过程中监测到元器件的功能不正常或参数超差；3)试验后发现元器件出现外壳、引线或封口损坏，或标志模糊；4)试验后元器件终点测量或检验不合格；5)试验后对密封的元器件进行检漏试验，结果为不合格。