[发明专利]一种制备像素化的闪烁材料膜的方法有效
申请号: | 201210510007.9 | 申请日: | 2012-12-03 |
公开(公告)号: | CN103849832A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 刘光辉;刘茜;周真真;魏钦华;杨华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C23C14/04 | 分类号: | C23C14/04;C23C16/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 江磊 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 像素 闪烁 材料 方法 | ||
1.一种制备像素化的闪烁材料膜的方法,所述方法包括以下步骤:将掩模版叠加到基板上,所述掩模版中包括多个贯穿该掩模版的开口;通过所述掩模版的开口在所述基板上沉积闪烁材料,从而在所述基板上形成多个分隔开的所述闪烁材料的像素单元。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述沉积闪烁材料的步骤是通过选自以下的方式完成的:物理气相沉积、化学气相沉积。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述沉积闪烁材料的步骤是通过选自以下的方式完成的:蒸发镀覆、溅射镀覆、电弧镀覆、离子镀覆。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述开口的形状为正方形、长方形、菱形或圆形,开口尺寸为10-200微米,所述开口之间的间距为10-100微米,所述掩模版与所述基板之间的距离h为10-1000微米,优选为100-500微米。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述闪烁材料选自:CsI:Tl、Gd2O2S:Tb和Lu2SiO5:Ce。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基板选自以下材料:硅板、石英玻璃板、光纤板。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:在所述沉积闪烁材料的过程中,在200-400℃的温度下进行真空退火处理;以及/或者在所述沉积闪烁材料的过程结束之后,在200-400℃的温度下进行真空退火处理;所述沉积过程中和沉积结束之后的退火处理都在氩气气氛下进行。
8.如权利要求1-7中任一项所述的方法,其特征在于,所述沉积闪烁材料的操作通过离子束溅射法,在以下条件下进行:温度为常温,压力为1×10-5帕至2×10-7帕,使用Ar+离子束对靶材进行溅射。
9.如权利要求1-7中任一项所述的方法,其特征在于,所述沉积闪烁材料的操作通过电阻蒸发法,在以下条件下进行:温度为100-200℃,压力为1×10-2帕至5×10-4帕。
10.一种包括像素化的闪烁材料膜的组件,该组件通过以上权利要求1-9中任一项所述的方法制得,所述组件包括基板和位于所述基板至少一个面之上的像素化的闪烁材料膜,所述闪烁材料膜由多个相互分离的闪烁材料像素单元组成,各个像素单元的尺寸为10-200微米,各个像素单元之间的间距为10-100微米。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海硅酸盐研究所,未经中国科学院上海硅酸盐研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210510007.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种节水控制装置
- 下一篇:一种锰氮合金的制备方法
- 同类专利
- 专利分类