[发明专利]一种NiZnCu铁氧体材料及其制作的叠层片式电子元件无效

专利信息
申请号: 201210508815.1 申请日: 2012-12-03
公开(公告)号: CN102982957A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 王其艮;戴春雷;吴震 申请(专利权)人: 深圳顺络电子股份有限公司
主分类号: H01F1/34 分类号: H01F1/34;H01F27/24;H01F41/02
代理公司: 深圳市中知专利商标代理有限公司 44101 代理人: 张皋翔
地址: 518110 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 nizncu 铁氧体 材料 及其 制作 叠层片式 电子元件
【说明书】:

技术领域

本发明涉及磁性材料,特别涉及一种NiZnCu铁氧体材料及其制作的叠层片式电子元件。

背景技术

近年来,随着电子元器件的广泛应用,在注重元件性能的同时,也关注元件的外观和可靠性。普通电子元件往往需要电镀,形成一焊接部,以保证端子部位与线路板的连接,但在酸性或碱性的镀液化学氛围中,元件磁体主体部分容易引起爬镀。在已知技术解决方案中,专利文献(公开号CN101145419)提供了一种铁氧体披覆玻璃材质的方法。但这种技术具有明显缺陷,在以下三种情况下将失效:一是对于涂布玻璃剂要求严格,倘若玻璃未能均匀全覆盖住磁体,将导致磁体电镀时仍有可能出现镀层扩散即爬镀显现;二是对于涂布玻璃剂,倘若玻璃未能进入磁体,将导致元件端头残留大量玻璃,导致端子电极不能与磁体有效接触,从而使得元件失效;三是当磁体内部含有连接电极时,这种表面处理的技术方案极有可能将电极封闭在磁体内部,导致内部电极不能与外部端子有效导通,从而使得元件失效;四是此种技术采用工艺成本较高。目前技术解决方案中还未有相关铁氧体材料配方改进措施。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种NiZnCu铁氧体材料,对材料电镀爬镀有明显改善,并且不影响端子电极与磁体或与其内部电极的有效连接。

本发明要解决的另一个技术问题是提供一种由上述NiZnCu铁氧体材料制作的叠层片式电子元件,此叠层片式电子元件具有较强的抗爬镀能力。

为了解决上述技术问题,本发明通过如下技术方案实现:

本发明提供了一种NiZnCu铁氧体材料,包括主成分、助烧剂和添加剂,

所述主成分及其mol百分比包括如下:

Fe2O3:41.5-49.5mol%

ZnO:12.5-30.5mol%

CuO:4-12mol%

余量为NiO;

所述助烧剂占主成分1-3wt%,为Bi2O3、ZnO、B2O3中的至少一种;所述添加剂占主成分0.3-3.5wt%,为Co3O4、MnCO3、Al2O3、CuO、SiO2中的至少一种。

所述主成分中:

Fe2O3的mol百分比优选为46mol%,

ZnO的mol百分比优选为27mol%,

CuO的mol百分比优选为9mol%,

NiO的mol百分比优选为18mol%。

所述助烧剂优选为占主成分2wt%的Bi2O3

所述添加剂优选为占主成分0.5wt%的添加剂Co3O4

本发明还提供了一种叠层片式电子元件,包括线圈导体和磁性本体,所述磁性本体由铁氧体材料的烧结体制作,所用的铁氧体材料包括主成分、助烧剂和添加剂,

所述主成分,其mol百分比包括如下:

Fe2O3:41.5-49.5mol%

ZnO:12.5-30.5mol%

CuO:4-12mol%

余量为NiO;

所述助烧剂占主成分1-3wt%,为Bi2O3、ZnO、B2O3中的至少一种;

所述添加剂占主成分0.3-3.5wt%,为Co3O4、MnCO3、Al2O3、CuO、SiO2中的至少一种。

所述主成分中:

Fe2O3的mol百分比优选为46mol%,

ZnO的mol百分比优选为27mol%,

CuO的mol百分比优选为9mol%,

NiO的mol百分比优选为18mol%。

所述助烧剂优选为占主成分2wt%的Bi2O3

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