[发明专利]一种用于确定待测物体中的成分含量的方法和设备

说明书

技术领域

本发明涉及测量方法，尤其涉及一种用于确定待测物体中的成分含量的方法和设备。

背景技术

当前测量贵重金属的含量过程中所采用的化学分析、化学光谱分析、试金分析和金相分析采用精密分析仪器等方式，均需要破坏被测的物体，因此无法进行广泛的应用，并且，当前的测量方式多依赖于人工操作与读数，其效率与精度均不高。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于确定待测物体中的成分含量的方法和设备。

根据本发明的一个方面，提供一种用于确定待测物体中的成分含量的方法，其中，所述方法包括以下步骤：

a通过质量测量器，获取所述待测物体在第一介质中的第一质量，以及所述待测物体在第二介质中的第二质量；

b根据所述第一质量以及所述第二质量信息，来确定所述待测物体中包含的待测成分的含量信息。

根据本发明的一个方面，还提供了一种用于确定待测物体中的成分含量的测量设备，其中，所述测量设备包括：

第一获取装置，用于通过质量测量器，获取所述待测物体在第一介质中的第一质量，以及所述待测物体在第二介质中的第二质量；

第一确定装置，用于根据所述第一质量以及所述第二质量信息，来确定所述待测物体中包含的待测成分的含量信息。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：根据本发明的方案，可以自动测量待测物体中的待测成分的含量，无需人工参与，提高了测量的效率，并且，通过增加环境传感器，能够得到更加精确的介质的密度，从而相应地提高所述含量信息的精度，减少由于环境因素改变而带来的误差。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为根据本发明的一种用于确定待测物体中的成分含量的方法流程图；

图2为根据本发明的一种用于确定待测物体中的成分含量的测量设备的结构示意图。

图3为根据本发明的一个实施例的测量设备中的介质容器的结构示意图；

图4a为根据本发明的又一个实施例的测量设备中的被测物体位于介质容器中第一介质中的示意图；

图4b为根据本发明的又一个实施例的测量设备中的被测物体位于介质容器中第二介质中的示意图。

附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步详细描述。

图1示意出了根据本发明的一种用于确定待测物体中的成分含量的方法流程图。

根据本发明的方法通过测量设备实现。所述测量设备包括一种能够按照事先设定或存储的指令，自动进行数值计算和/或信息处理的电子设备，其硬件包括但不限于微处理器、专用集成电路(ASIC)、可编程门阵列(FPGA)、数字处理器(DSP)、嵌入式设备等。其中，根据本发明的测量设备包括质量测量器。优选地，根据本发明的测量设备还包括环境传感器。更优选地，所述测量设备还包括用于辅助所述质量测量器进行测量的介质容器。

参照图1，根据本发明的方法包括步骤S1和步骤S2。

在步骤S1中，通过质量测量器，获取所述待测物体在第一介质中的第一质量，以及所述待测物体在第二介质中的第二质量。

其中，所述待测物体包括但不限于密度已知的固体。所述固体包括但不限于以下任一种：

1)金属单质；优选地，所述金属单质为贵金属，例如，金、白金、铂等。

2)其他晶体化合物，例如，各类宝石等。

其中，所述第一介质与所述第二介质中至少有一个为液体介质。

优选地，所述第一介质包括气体，所述第二介质包括液体。更优选地，所述第一介质为空气，所述第二介质为水。

具体地，所述测量设备先将待测物体浸没于第一介质中，由质量测量器测量此时所述待测物体的第一质量；接着，测量设备使该待测物体浸没于第二介质中，由质量测量器测量此时所述待测物体的第二质量。

优选地，参照图3，质量测量器位于所述测量设备的介质容器顶部，所述测量设备可先在介质容器中充满第一介质，以使待测物体被浸没于该第一介质中，并在获得第一质量后，排出该第一介质，并在该介质容器中充满第二介质，以使待测物体被浸没于该第二介质中，以测量并获得第二质量。