[发明专利]一种数据处理方法和电子设备有效
| 申请号: | 201210507486.9 | 申请日: | 2012-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN103853418B | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
| 发明(设计)人: | 陈羽;赵磊 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/0481 | 分类号: | G06F3/0481;G06F3/0484 |
| 代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 数据处理 方法 电子设备 | ||
1.一种数据处理方法,应用于电子设备,其特征在于,所述方法包括:
获取位于所述电子设备第一表面的操作对象的空间参数改变量;
在确定所述操作对象当前生效的功能和所述操作对象的调节对象后,显示所述操作对象当前生效的功能以及所述调节对象空间状态参数;
根据所述操作对象的空间参数改变量生成第一指令;所述第一指令用于指示根据所述操作对象当前生效的功能,调节所述调节对象空间状态参数;
执行所述第一指令,进行与所述第一指令相对应的处理;当在调节时,根据所述调节对象的空间状态参数改变量,显示所述调节对象的调节后的空间状态参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述空间参数改变量包括:
所述操作对象的位置改变量,或所述操作对象的角度改变量。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述角度改变量为基准面上的第一基准线和第二基准线的角度差;
其中所述操作对象和所述基准面上的第一基准线对应,所述电子设备与所述基准面上的第二基准线对应,所述基准面为与所述第一表面平行的面,或所述基准面为与所述第一表面成预定角度的面。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取位于所述电子设备第一表面的操作对象的空间参数改变量包括:
检测所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的空间参数改变量;或
从所述操作对象接收所述操作对象的空间参数改变量。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述检测所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的空间参数改变量包括:
获取所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的第一空间参数;
获取所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的第二空间参数;
根据所述第一空间参数和所述第二空间参数获得所述操作对象相对于所述电子设备第一表面的空间参数相对改变量。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,从所述操作对象接收所述操作对象的空间参数改变量包括:
从所述操作对象接收所述操作对象的空间参数绝对改变量;或
从所述操作对象接收所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的第一空间参数;
从所述操作对象接收所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的第二空间参数;
根据所述第一空间参数和所述第二空间参数获得所述操作对象相对于所述电子设备的第一表面的空间参数相对改变量。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述操作对象的空间参数改变量生成第一指令包括:
获得所述操作对象对应的功能标识,并根据所述功能标识确定所述操作对象的功能;
根据所述操作对象的空间参数改变量,以及所述操作对象的功能生成第一指令,以使得在执行所述第一指令时进行与所述操作对象的功能相对应的处理。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述操作对象的空间参数改变量生成第一指令包括:
获得所述操作对象对应的功能标识,并根据所述功能标识确定所述操作对象的功能;
根据所述操作对象在所述第一表面上所位于的区域确定所述操作对象的调节对象;其中,所述操作对象在所述第一表面上所位于的区域为所述操作对象的初始位置对应的区域;
根据所述操作对象的空间参数改变量、所述操作对象的功能、以及所述操作对象的调节对象生成第一指令,以使得在执行所述第一指令时进行与所述操作对象的功能相对应的处理。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述操作对象的空间参数改变量生成第一指令包括:
获得所述操作对象对应的功能标识,并根据所述功能标识确定所述操作对象的功能,所述操作对象至少包括两种功能;
根据所述操作对象在所述第一表面上所位于的区域确定所述操作对象的调节对象,并在所述操作对象的至少两种功能中确定生效的功能;
根据所述操作对象的空间参数改变量、所述操作对象生效的功能、以及所述操作对象的调节对象生成第一指令,以使得在执行所述第一指令时进行与所述操作对象的功能相对应的处理。
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