[发明专利]用于测试电源控制器的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201210497500.1 申请日: 2012-11-29
公开(公告)号: CN103135030A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: D.伯纳登 申请(专利权)人: 英飞凌科技奥地利有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 胡莉莉;李浩
地址: 奥地利*** 国省代码: 奥地利;AT
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 电源 控制器 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明一般而言涉及一种半导体电路和方法,并且更特别地涉及一种用于测试电源控制器的系统和方法。

背景技术

气囊辅助约束系统(SRS,supplemental restraint system)由于其在撞击的情况下保护车辆乘员免于严重损害的能力而已经变得日益盛行。通常的气囊系统具有气囊、充气装置以及探测车辆的突然减速的碰撞传感器。为了防止意外的或不想要的气囊充气,气囊系统一般要求高的安全完整性等级,以防止意外的或不想要的气囊充气。维持高安全完整性等级的一种方式是使用多个传感器。例如,通常的侧面冲击气囊系统(side impact airbag system)具有在车门内的压力传感器和加速度计,所述加速度计位于紧挨着车门的柱中。如果压力传感器在加速度计探测到加速度的同时测量到压力的突然上升,那么SRS系统展开侧面冲击气囊。通过针对压力传感器和加速度计设置合适的定时和幅度条件,气囊在撞击的情况下被展开,但不是由于例如由人关门所引起的振动而被展开。一般而言,气囊系统的必需的感测和触发由被耦合到SRS系统的各种元件的微控制器或微处理器来协调。

涉及SRS的安全完整性的一个问题是被耦合到SRS系统的电路和电路板的电气完整性。这个完整性不仅被维持到SRS系统的微控制器和部件,而且被维持到向SRS系统的微控制器和其它元件提供电力的电源系统。

例如,如果在与SRS系统相关联的电路板或另一件电子设备上存在短路,那么存在气囊可以在某些状况下展开的可能性。一个这样的状况是给微控制器供给电力的电源中的引脚短路。这样的短路可以引起气囊模块的微控制器的电压上升到可能引起对电子部件的物理损害并且潜在地触发无意中的气囊展开的水平。诸如ASEAL-D ISO26262之类的一些汽车功能安全要求要求与安全系统的自动化相关联的电子电路(诸如微控制器)被保护,以便防止这样的意外的气囊展开。

发明内容

根据实施例,测试电源控制器的方法包括探测外部开关是否被耦合在第一供给引脚和第二供给引脚之间。如果外部开关被探测到,那么该方法确定在第二供给引脚与开关输出引脚之间是否存在短路。然而,如果在第二供给引脚与开关输出引脚之间的短路没有被探测到,那么该方法确定在开关控制引脚与第二供给引脚之间是否存在短路。如果在开关控制引脚与第二供给引脚之间的短路没有被探测到,那么该方法确定当开关控制引脚激活外部开关时在第一供给引脚与第二供给引脚之间是否存在导电通路。

本发明的一个或多个实施例的细节在下面的所附的附图和描述中被陈述。本发明的其它特征、目的和优点从描述和附图中以及从权利要求书中将是明显的。

附图说明

为了更完整地理解本发明及其优点,现在参照下面的结合所附的附图的描述,在所附的附图中:

图1a-b图示了根据本发明的实施例的电源系统;

图2a-b图示了实施例方法的流程图;以及

图3图示了实施例气囊系统。

具体实施方式

目前优选的实施例的制作和使用在下面被详细讨论。然而,应意识到的是,本发明提供了在各种各样的特定上下文中可以被具体表现的许多可应用的发明概念。被讨论的特定实施例仅仅是说明作出和使用本发明的特定方式的,并且并不限制本发明的范围。

本发明将关于优选的实施例在特定的上下文中被描述,其中电源控制器电路具有探测可能导致系统故障的电路板状况的内建测试(BIST,built-in test)电路。本发明也可以被应用来探测其它类型的电路和系统中的短路和其它故障状况。

根据本发明的实施例,针对电源控制器的内建自测试系统(BIST)确定是否存在外部保护开关被耦合在高压电源与切换模式降压转换器(switched-mode buck converter)的功率输入之间。如果外部保护开关被探测到,那么BIST系统进一步确定在电源控制器的引脚上是否存在短路,其中所述短路可以引起微控制器的电压以不安全的方式上升到危险的水平。如果这样的状况被探测到,那么BIST系统接着在点火循环(ignition cycle)内使该开关禁用,否则电源系统被允许工作。

本发明的实施例可以被集中到汽车安全系统、例如气囊系统上。然而,应意识到的是,实施例原理可以朝向其它类型的系统、诸如开关模式电源系统被应用。本发明的实施例也可以被应用到其它类型的测试系统。例如,实施例可以被集中到在其目标系统之内的集成电路的现场系统测试上。

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