[发明专利]双半波全介质F-P窄带偏振分离滤光片有效
| 申请号： | 201210495509.9 | 申请日： | 2012-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN102928907A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 侯永强;齐红基;李熙;何凯;于振坤;孙卫;易葵 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G02B5/26 | 分类号： | G02B5/26;G02B5/30;G02B1/10 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 双半波全 介质 窄带 偏振 分离 滤光 | ||
【权利要求书】：
1.一种双半波全介质F-P窄带偏振分离滤光片，其特征在于是在基底上由内至外的高反射膜（4）、双轴各向异性间隔层（3）、高反射膜（4）、耦合层（5）、高反射膜（4）、各向异性间隔层（3）和高反射膜（4）构成，所述的高反射膜是由多层高折射率层（1）和多层低折射率层（2）周期性交替并与一层高折射率层（1）叠加组成的，该高反射膜（4）的外层均为高折射率层（1），所述的耦合层（5）为低折射率层（2）。
2.如权利要求1所述的双半波全介质F-P窄带偏振分离滤光片，其特征在于所述的高反射膜（4）的高折射率层（1）的材料为HfO2，低折射率层（2）的材料为SiO2，每一膜层的光学厚度为四分之一参考波长λ。
3.如权利要求1所述的双半波全介质F-P窄带偏振分离滤光片，其特征在于所述的耦合层（5）为低折射率层（2），所述的耦合层（5）的光学厚度为四分之一参考波长λ。
4.如权利要求1所述的双半波全介质F-P窄带偏振分离滤光片，其特征在于所述的双轴各向异性间隔层（3）的材料为Ta2O5，光学厚度为二分之一参考波长λ。
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