[发明专利]阵列基板及其制作方法、显示装置有效
申请号: | 201210492962.4 | 申请日: | 2012-11-27 |
公开(公告)号: | CN102969311A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 张弥 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 制作方法 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种阵列基板及其制作方法、显示装置。
背景技术
现有技术的阵列基板包括栅线、数据线及栅线和数据线交叉定义的像素单元,每个像素单元包括:薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)、像素电极和公共电极,且每个像素单元只有一个TFT。该TFT的源极连接数据线,漏极连接像素电极,栅极由栅线驱动以开启TFT沟道,使数据线上的电压信号通过TFT施加至像素电极上。开启TFT沟道时通常需要较大的栅电极开启电压,以保证沟道处的充电电流和充电率,从而使得功耗上升。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是:如何降低开启TFT时所需的功耗。
(二)技术方案
为解决上述技术问题,本发明提供了一种阵列基板,包括:栅线、数据线及栅线和数据线交叉定义的像素单元,每个像素单元包括:第一薄膜晶体管,每个像素单元还包括:第二薄膜晶体管,所述第二薄膜晶体管与所述第一薄膜晶体管共用栅极及有源层,所述第二薄膜晶体管用于在第一薄膜晶体管的沟道处形成一开启电压,与所述栅极提供的开启电压共同开启第一薄膜晶体管的沟道。
其中,所述第二薄膜晶体管的源漏电极层与所述第一薄膜晶体管的源漏电极层之间设有绝缘间隔层,所述第二薄膜晶体管的源极连接所述栅线及所述有源层,第二薄膜晶体管的漏极连接所述有源层,且位于所述第一薄膜晶体管的沟道区域。
其中,所述绝缘间隔层覆盖整个阵列基板,所述第二薄膜晶体管的源极通过穿过所述绝缘间隔层、有源层和栅绝缘层的第一过孔连接所述有源层和所述栅线,所述第二薄膜晶体管的漏极通过穿过所述绝缘间隔层的第二过孔连接所述有源层。
其中,穿过所述绝缘间隔层、有源层和栅绝缘层的第一过孔为阶梯孔,穿过所述绝缘间隔层的孔的直径大于穿过有源层和栅绝缘层的孔的直径。
其中,所述绝缘间隔层覆盖的区域对应为所述第二薄膜晶体管的漏极的与所述第一薄膜晶体管的源极、漏极及第一薄膜晶体管的源极和漏极之间的沟道重叠的区域,所述第二薄膜晶体管的源极通过穿过所述有源层和栅绝缘层的第一过孔连接所述栅线。
其中,还包括:与栅线同层的公共电极线,所述第二薄膜晶体管的源漏电极层与所述第一薄膜晶体管的源漏电极层之间设有绝缘间隔层,所述第二薄膜晶体管的源极连接所述公共电极线和所述有源层,所述第二薄膜晶体管的漏极连接所述有源层,且位于所述第一薄膜晶体管的沟道区域。
其中,所述绝缘间隔层覆盖整个阵列基板,所述第二薄膜晶体管的源极通过穿过所述绝缘间隔层的第三过孔连接所述有源层,且通过穿过所述绝缘间隔层及栅绝缘层的第一过孔连接所述公共电极线,所述第二薄膜晶体管的漏极通过穿过所述绝缘间隔层的第二过孔连接所述有源层。
其中,所述绝缘间隔层覆盖的区域对应为所述第二薄膜晶体管的漏极的与所述第一薄膜晶体管的源极、漏极及第一薄膜晶体管的源极和漏极之间的沟道重叠的区域,所述第二薄膜晶体管的源极通过穿过所述栅绝缘层的第一过孔连接所述公共电极线。
其中,所述第二薄膜晶体管上方还覆盖有钝化层。
本发明还提供了一种阵列基板制作方法,包括以下步骤:
在基板上形成包括栅线、栅极、栅绝缘层及有源层的图形;
形成包括数据线、第一源极及第一漏极的图形,以形成第一薄膜晶体管;
形成绝缘间隔层;
形成包括第二源极、第二漏极的图形,以形成第二薄膜晶体管,使所述第二薄膜晶体管与所述第一薄膜晶体管共用栅极及有源层,第二漏极位于所述第一源极及第一漏极之间的沟道的上方。
其中,在形成绝缘间隔层时,使所述绝缘间隔层覆盖的区域对应为所述第二漏极与所述第一源极、第一漏极及第一源极和第一漏极之间的沟道重叠的区域,在形成所述绝缘间隔层之后第二薄膜晶体管之前还包括在所述栅绝缘层和有源层上位于所述第二源极的区域内形成第一过孔使暴露出所述栅线。
其中,形成绝缘间隔层覆盖整个基板,同时还包括在所述绝缘间隔层上位于所述第二源极的区域内形成第一过孔使暴露出所述栅线,位于所述第二漏极的区域内形成第二过孔使暴露出所述有源层。
其中,在形成栅线的同时,还包括形成公共电极线。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210492962.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有螺杆式操动机构的断路器开关
- 下一篇:断路器的辅助开关
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的