[发明专利]曝光调整装置、影像均化装置及影像均化方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种曝光调整装置、影像均化装置及影像均化方法，特有关一种可以不固定调整量调整曝光参数的曝光调整装置、影像均化装置及影像均化方法。

背景技术

随着影像数字化技术的进步，使用数字影像的电子装置如数字相机、数字摄像机以及光学鼠标等逐渐被发展出来并普及。这一类产品中通常会具有一个影像传感器，其可以撷取影像以供电子装置使用。而且，影像传感器可根据影像的曝光量来设定影像传感器内部的曝光参数，以调整影像的曝光量使影像不会曝光过度或是曝光不足(过亮或过暗)。

图1绘示了现有技术现有技术中的影像传感器100的电路图。如图1所示，影像传感器100包含了像素数组101、信号读取电路103、放大器111以及模拟数字转换器113。像素数组101包含了多个像素单元PIX₁₁-PIX_nm，当影像感测芯片100读取一个影像时，会以信号读取电路103存取像素数组101中的像素信号，然后再以放大器111放大像素信号，之后以模拟数字转换器113将像素信号转换成数字的格式，以给后续的数字信号处理器115处理。信号读取电路103包含了多个信号读出单元SR₁、SR₂、SR₃，用以自像素单元PIX1₁-PIX_nm读取像素信号。

图2是图1中的像素数组101的详细电路示意图。当重置信号RES控制NMOS M₂导通时，光二极管PD的跨压将充电至V_rst。信号读取电路103中的信号读出单元SR₁、SR₂、SR₃均具有一个储能元件，当像素选取信号RSEL₁或RSEL₁控制NMOS M3导通时，光二极管PD上的跨压将经由NMOS M₁转换成电流，并储存在信号读出单元SR₁、SR₂、SR₃的储能元件中。因此，信号读出单元SR₁、SR₂、SR₃的储能元件所储存的电荷即是相对应像素单元所感测的受光量。光二极管PD的照光强度与照光时间可视为像素单元的曝光强度与曝光时间。像素单元的曝光量由曝光强度*曝光时间所形成，而所有像素单元曝光量的平均值，则可视为整个影像的曝光量。所以要使影像的曝光量落在一个预定曝光区间时，则可调整光二极管PD的照光强度或照光时间(即曝光参数)，来改变影像的曝光强度与曝光时间。

现有技术现有技术中调整曝光参数通常是增加或递减一个固定值，例如若曝光参数是100单位，若侦测到影像曝光量太大，则会使曝光参数减少10单位，并以新的曝光参数来撷取一个影像。然而，若曝光参数是1000单位，但每次仍只减少10单位，这样曝光参数增减值过小，须多次调整才能使影像的曝光量落入所须的范围，会需要较长的调整时间。反之若曝光参数是100单位，但每次曝光参数增减值是40单位或更大，这样曝光参数增减值过大，会一直无法使影像的曝光量落入所须的范围。

发明内容

本发明一个目的是公开一种曝光调整装置，其会根据不同状况来改变曝光参数的调整量，以将影像的曝光量调整至预定的曝光区间。

本发明一个目的是公开一种影像均化装置及影像均化方法，其会根据不同状况来改变曝光参数的调整量，以两影像的曝光量调整实质上一致。

本发明的实施例公开一种曝光调整装置，包含：影像传感器，依据曝光参数撷取影像；计算装置，用以计算该影像的曝光量并判断该曝光量是否位在预定曝光区；以及曝光更新装置，若该曝光量位在该预定曝光区，则不调整该曝光量，若该曝光量不位在该预定曝光区，则根据该预定曝光区、该曝光量以及该曝光参数至少其一产生至少一调整量，并以该调整量增加或减少该曝光参数以产生新的曝光参数。