[发明专利]一种监测航天器内带电电位的方法有效
| 申请号： | 201210491707.8 | 申请日： | 2012-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN102944722A | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 石红;杨生胜;薛玉雄;秦晓刚;田恺;柳青;安恒;杨青;李存惠;汤道坦 | 申请（专利权）人： | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 杨志兵;付雷杰 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 监测 航天器 带电 电位 方法 | ||
1.一种监测航天器内带电电位的方法，其特征在于：所述方法步骤如下：
（1）制作内带电探头
所述内带电探头采用多层电路板结构，内带电探头包括屏蔽外壳（1-1）、多层电路板、电阻（1-5）、静电计（1-6）；其中，所述屏蔽外壳（1-1）为上端开口的铝质壳体，屏蔽外壳（1-1）侧壁设有通孔用于穿过导线；所述多层电路板包括基板、介质层（1-4）和铜膜层（1-3），基板置于最底层，介质层（1-4）置于基板上方，介质层（1-4）和铜膜层（1-3）分别有十层，交叉叠放；电阻（1-5）和静电计（1-6）均为九个；
将多层电路板封装并固定于屏蔽外壳（1-1）内，多层电路板上表面与屏蔽外壳（1-1）的上端开口相对，且多层电路板上、下表面均接地；多层电路板中的除最上层铜膜层（1-3）以外的每层铜膜层（1-3）均对应一个电阻（1-5）和一个静电计（1-6），即每层铜膜层（1-3）与一个电阻（1-5）和一个静电计（1-6）依次相连，九个静电计（1-6）均接地，且静电计（1-6）置于屏蔽外壳（1-1）外部，电阻（1-5）置于屏蔽外壳（1-1）内部；
（2）进行电子束辐照试验
利用能量为1MeV，电流密度为65pA/cm2的电子束进行辐照，电子束置于步骤（1）所述探头上方，使入射电子（1-2）从屏蔽外壳（1-1）上端开口处垂直入射到多层电路板内部，通过测量铜膜层（1-3）上引出导线上的电位测量多层电路板介质内部不同深度处的电位，利用静电计（1-6）测得9根导线上的电压；分别给出辐照10分钟、20分钟、30分钟、1小时之后9根导线上的电压。
2.根据权利要求1所述的一种监测航天器内带电电位的方法，其特征在于：所述铜膜层（1-3）采用溅射镀膜的方法镀到介质层（1-4）表面。
3.根据权利要求1所述的一种监测航天器内带电电位的方法，其特征在于：所述介质层（1-4）材料为聚四氟乙烯或聚酰亚胺，厚度为60μm。
4.根据权利要求1所述的一种监测航天器内带电电位的方法，其特征在于：所述铜膜层（1-3）厚度为10μm。
5.根据权利要求1所述的一种监测航天器内带电电位的方法，其特征在于：所述屏蔽外壳（1-1）材料为铝，厚度为0.2mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所，未经中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210491707.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
