[发明专利]背照式图像传感器芯片的金属栅格及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201210490836.5 申请日: 2012-11-27
公开(公告)号: CN103378111A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 王志谦;张浚威;莫忘本;谢弘璋 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;孙征
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 背照式 图像传感器 芯片 金属 栅格 及其 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种方法,包括:

在半导体衬底的正面上形成多个图像传感器;

在所述半导体衬底的背面上方形成介电层;

对所述介电层图案化以形成多个栅格填充区,其中所述多个栅格填充区的每一个都覆盖所述多个图像感器中的一个;

在所述多个栅格填充区的顶面以及侧壁上形成金属层;

对所述金属层进行蚀刻以去除每个栅格填充区的顶面上的所述金属层,从而在所述多个栅格填充区的侧壁上形成金属栅格;以及

将透明材料填充至所述金属栅格的栅格开口中。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个栅格填充区具有棋盘状的白色或黑色的图案。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述介电层的图案化步骤之后,在所述金属栅格中形成空间,以及所述空间和所述多个栅格填充区在所述金属栅格的每一行和每一列中以交替方式设置。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多个栅格填充区中的两个相邻栅极填充区之间的距离基本上等于所述多个栅格填充区中的一个的宽度与两倍所述金属层的厚度的总和。

5.一种方法,包括:

在半导体衬底的正面上形成多个图像传感器,所述多个图像传感器形成阵列;

在所述半导体衬底的背面上方形成介电层;

对所述介电层进行图案化以形成多个第一栅格填充区,其中所述多个第一栅格填充区覆盖所述阵列中的多个第一图像传感器,并且所述多个第一图像传感器在所述阵列中的每一行和每一列中包括每隔一个的图像传感器;

在所述多个第一栅格填充区的顶面和侧壁上形成金属层;以及

对所述金属层进行蚀刻以去除所述金属层的水平部分,其中在所述蚀刻步骤之后保留所述金属层的垂直部分以形成金属栅格。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述多个第一栅格填充区未覆盖所述阵列中的多个第二图像传感器,以及所述多个第一图像传感器和所述多个第二图像传感器以交替方式设置在所述阵列的每一行和每一列中。

7.根据权利要求5所述的方法,还包括:

在所述金属栅格的栅格开口中填充透明材料以形成多个第二栅格填充区,其中所述透明材料包括填充到所述金属栅格的开口中的第一部分以及位于所述多个第二栅格填充区上方并与所述多个第二栅格填充区接触的第二部分;以及

形成覆盖所述多个第一栅格填充区和所述多个第二栅格填充区的滤色镜和微透镜。

8.一种器件,包括:

具有正面和背面的半导体衬底;

设置在所述半导体衬底的正面上的多个图像传感器,其中,所述多个图像传感器形成阵列;

位于所述半导体衬底的背面上方的金属栅格;

设置在所述金属栅格的栅格开口中的多个第一栅格填充区和多个第二栅格填充区,其中所述多个第一栅格填充区和所述多个第二栅格填充区在所述栅格开口的每一行和每一列中以交替方式布置;以及

位于所述多个第一栅格填充区和所述多个第二栅格填充区上方的介电层,其中,在所述介电层和所述多个第一栅格填充区之间不形成可辨识的界面,而在所述介电层和所述多个第二栅格填充区之间形成可辨识的界面。

9.根据权利要求8所述的器件,其中,所述介电层以及所述多个第一栅格填充区和所述多个第二栅格填充区由相同材料形成。

10.根据权利要求8所述的器件,其中,所述介电层与所述多个第二栅格填充区由不同的材料形成。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210490836.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top