[发明专利]一种调制精度的估计方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210488762.1 申请日: 2012-11-26
公开(公告)号: CN103023829A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 李向宁;陈艳霞 申请(专利权)人: 电信科学技术研究院
主分类号: H04L25/02 分类号: H04L25/02;H04L25/03
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 刘松
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 调制 精度 估计 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种调制精度的估计方法,其特征在于,包括:

确定测试信号与参考信号的同步位置,根据所述同步位置对所述测试信号进行采样确定至少一路测试数据;

针对任一路所述测试数据,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,并采用所述频偏值和相偏值对所述测试数据进行频偏和相偏补偿,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移、幅度修正因子,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,使用所述参考信号与幅度修正、原点偏移消除后的所述测试数据计算均方误差矢量幅度RMS EVM;

确定各路所述测试数据对应的RMS EVM中的最小值,根据该最小值对应的一路测试数据在计算RMS EVM过程中得到的各中间计算结果进一步确定调制精度的其它指标,所述各中间计算结果至少包括:频偏值、相偏值、原点偏移和误差矢量。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,利用所述参考信号计算所述测试数据的频偏值和相偏值,具体包括:

计算参考信号中的数据与所述测试数据之间的相位差,对所述相位差去除由于2π周期性所导致的相位跳变,对去除相位跳变后的相位差进行一元线性回归拟合,得到截距和斜率,所述截距为初始相偏值,所述斜率为频偏值。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,使用所述频偏和相偏补偿后的测试数据并利用参考信号计算所述测试信号的原点偏移,具体包括:

对所述频偏和相偏补偿后的测试数据和所述参考信号中的数据分别进行实部的一元线性回归拟合和虚部的一元线性回归拟合,以实部的一元线性回归拟合得到的斜率与截距的比值作为原点偏移的实部,以虚部的一元线性回归拟合得到的斜率与截距的比值作为原点偏移的虚部。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,计算幅度修正因子,具体包括:

计算使得‖Y0′-A(X+C0)‖2最小的幅度修正因子A,得到A=ΣiRe{(X(i)+C0)(Y0(i))*}Σi|X(i)+C0|2,]]>其中,Y′0表示所述频偏和相偏补偿后的测

试数据,X表示参考信号,Co表示原点偏移,“‖‖2”表示模的平方。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,具体包括:

采用公式对所述频偏和相偏补偿后的测试数据进行幅度修正和原点偏移消除,其中,Y″表示幅度修正和原点偏移消除后的所述测试数据,Y′0表示所述频偏和相偏补偿后的测试数据,A表示幅度修正因子,Co表示原点偏移。

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