[发明专利]一种微小位移放大方法无效

专利信息
申请号: 201210488679.4 申请日: 2012-11-26
公开(公告)号: CN102927927A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 于星光 申请(专利权)人: 昆山北极光电子科技有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215301 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 微小 位移 放大 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于机械形变测量领域,特别涉及一种微小位移放大方法。

背景技术

传统的弹性形变测量方法主要采用拉伸法,通过测距的方式来测量弹性形变,该方法的缺陷在于。测量工具和测量过程比较复杂,而通过透镜角度的变换和形变成函数关系的特性,可以通过测角度的方式实现测距,从而测量物体的微小形变。

发明内容

本发明的目在于提供一种微小位移放大方法。

实现上述目的的技术方案是:一种微小位移放大方法,包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪,其中,形变物体紧靠透镜下方,聚焦光源在透镜正前方。

上述的一种微小位移放大方法,其中,所述聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点,透镜可围绕透镜固定点旋转。

上述的一种微小位移放大方法,其中,所述透镜固定点到所述形变物体和所述透镜接触点的距离为L,所述形变物体产生应变的应变量为X,形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点,使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度,用所述角度测量仪测量得旋转角度α,tgα=X/L,可得形变物体产生应变的应变量X=L×tgα。

本发明通过测角度的方式实现测距,从而测量物体形变的微小位移,具有工具简单、方法简便的特点。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

请参阅图1,图中给出了一种微小位移放大方法,包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪,其中,形变物体紧靠透镜下方,聚焦光源在透镜正前方,聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点,透镜可围绕透镜固定点旋转。

透镜固定点到形变物体和透镜接触点的距离为L=10cm,所述形变物体产生应变的应变量为X,形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点,使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度,用所述角度测量仪测量得旋转角度α=2°,tgα=X/L,可得形变物体产生应变的应变量X=L×tgα=0.3cm。

以上结合附图实施例对本发明进行了详细说明,本领域中普通技术人员可根据上述说明对本发明做出种种变化例。因而,实施例中的某些细节不应构成对本发明的限定,本发明将以所附权利要求书界定的范围作为本发明的保护范围。

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