[发明专利]一种非接触式的气体温度测量方法

说明书

技术领域

本发明属于化工行业气体温度测量领域，特别涉及一种非接触式的气体温度测量方法方法。

背景技术

在化工行业中，一些气体存在有害物质，不能被人接触，密封在气体室中，对于这类气体室中气体温度的测量，无法用温度计直接测量，需要有用间接测量的方式来获取气体温度，因此，需要一种非接触式的气体温度测量方法。

发明内容

本发明的目在于提供一种非接触式的气体温度测量方法。

实现上述目的的技术方案是：一种非接触式的气体温度测量方法，包括大气体室、小气体室和气体隔离板,其中，大气体室和小气体室之间安装所述气体隔离板。

上述的一种非接触式的气体温度测量方法，其中，所述气体隔离板保证两侧气体的隔离，同时两侧承受的气体压力完全相等。

上述的一种非接触式的气体温度测量方法，其中，所述大气体室体积为V1，温度为T1，压力为P1,气体物质的量为n1，根据气体方程得公式1：P1×V1=n1×R×T1，所述小气体室体积为V2，温度为T2，压力为P2,气体物质的量为n2，根据气体方程得公式2：P2×V2=n2×R×T2，将公式1代入公式2可得，：P1×V1/n1/T1=P2×V2/n2/T2，由于P1=P2可得，T1=V1×n2×T2/V2/n1，在大气体室体积V1、气体物质的量n1和小气体室体积V2、气体物质的量n2已知的情况下，通过测量小气体室温度T2可计算所述大气体室温度T1。

本发明的有益效果是：本发明可以通过非接触的方式测量气体室的温度，实现了化工行业一些不可接触气体温度的测量。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

请参阅图1，图中给出了一种非接触式的气体温度测量方法，包括大气体室、小气体室和气体隔离板，其中，大气体室和小气体室之间安装所述气体隔离板，气体隔离板保证两侧气体的隔离，同时两侧承受的气体压力完全相等。

大气体室体积为V1=100m³，温度为T1，压力为P1,气体物质的量n1=100mol，根据气体方程得公式1：P1×V1=n1×R×T1，所述小体积室体积为V2=1m³，温度为T2，压力为P2，气体物质的量为1.2mol，根据气体方程得公式2：P2×V2=n2×R×T2，将公式1代入公式2可得，：P1×V1/n1/T1=P2×V2/n2/T2，由于P1=P2可得，T1=V1×n2×T2/V2/n1，测得小气体室温度T2为25℃，计算可得大气室温度T2为30℃。

以上结合附图实施例对本发明进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根据上述说明对本发明做出种种变化例。因而，实施例中的某些细节不应构成对本发明的限定，本发明将以所附权利要求书界定的范围作为本发明的保护范围。