[发明专利]一种超声波探伤仪探头及其楔块

说明书

技术领域

本发明涉及超声波探伤技术领域，特别涉及一种超声波探伤仪探头及其楔块。

背景技术

支柱瓷绝缘子（瓷套）广泛地应用在电力输送领域中，支柱瓷绝缘子（瓷套）的品质对电力输送的安全性具有重要的影响。支柱瓷绝缘子（瓷套）的下法兰和瓷件的胶状部位最易产生裂纹、气泡等缺陷，为了及时发现下法兰胶装部位的缺陷，目前大多数采用超声波进行瓷绝缘子（瓷套）探伤。

请参考图1，图1为现有技术中支柱瓷绝缘子和超声波探伤探头示意图。

超声波检测系统主要由探头01、连接数据线、探伤仪三部分组成，通常的检测方法是将探头01放置在上法兰或下法兰02与相邻的伞裙03之间，靠近法兰部位，用超声波沿周向扫查，检验人员通过观察扫查过程中探伤仪的波形信号，来判断瓷绝缘子是否有缺陷。

在实际支柱瓷绝缘子（瓷套）超声波探伤过程中，遇到一部分支柱瓷绝缘子（瓷套），其上法兰或下法兰02与相邻的伞裙03之间距离太小，只有10毫米左右，而常规探头的厚度有12毫米，由此引起探头不能与绝缘子表面有效贴合，导致了设备的该部位成为检测盲区，对电网安全造成了很大的隐患。

探头内部的陶瓷晶片是产生超声波的核心部件，陶瓷晶片的下面垫有楔块，楔块的底面为水平面，顶面为倾斜面，陶瓷晶片放置于楔块的顶面。现有技术中，楔块的底面长度为24mm，宽度为12mm，顶面最高点到底面的距离为7.4mm。

为了减小探头的厚度，以便探头能够伸入到间隙距离10mm左右的下法兰和与其相邻的伞裙之间，楔块的尺寸需要减小。然而，若按比例缩小楔块的尺寸，陶瓷晶片产生的超声波到达工件的强度和稳定性将受到影响，进而不能准确判断瓷绝缘子是否存在缺陷。

因此，如何能够在不影响探头发射出的超声波到达工件的强度和稳定性的基础上，缩小楔块的尺寸，成为本领域技术人员所要解决的重要技术问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种超声波探伤探头的楔块，其能够在保证探头发出的超声波到达工件后具有足够的强度和具有较好稳定性的基础上，有效缩小了其自身的尺寸。本发明还提供了一种超声波探伤探头，其厚度较小，能够伸入间隙距离为10mm左右的法兰和伞裙之间，进而能够有效判断瓷绝缘子是否存在缺陷。

本发明提供的超声波探伤仪探头的楔块，所述楔块的底面长度为15mm，宽度为7mm，顶面的最高点至底面的距离为4.5mm，所述楔块的顶面与水平面的夹角为20度-23度。

优选地，所述楔块的顶面设有沿所述楔块的宽度方向延伸的纹理。

优选地，所述楔块为塑料楔块。

本发明还提供了一种超声波探伤仪探头，包括如上述任一项所述的楔块。

本发明提供的超声波探伤仪探头的楔块，所述楔块的底面长度为15mm，宽度为7mm，顶面的最高点至底面的距离为4.5mm，所述楔块的顶面与水平面的夹角为20度-23度。由于本发明提供的楔块尺寸小于现有技术中的楔块尺寸，楔块的顶面与水平面的夹角为20-23度，系指当楔块的底面放置在水平面上时，楔块的顶面与水平面的夹角呈20-23度。楔块上的晶片产生的超声波到达被检测工件的强度和稳定性与楔块的尺寸和倾斜角度紧密相关，本发明将楔块的顶面倾斜角度设置为20-23度，能够使得晶片产生的超声波几乎垂直于被检测工件的厚度方向，进而保证了超声波到达被检测工件的强度和稳定性。

本发明的优选方案中，所述楔块的顶面设有沿所述楔块的宽度方向延伸的纹理。在楔块的顶面设置沿楔块的宽度方向延伸的纹理，不仅能够防止晶片向楔块的两侧方向滑动，而且晶片与楔块的接触面为纹理面，产生的超声波强度可得到有效提高。

本发明还提供了一种超声波探伤仪探头，包括如上述任一项所述的楔块。如此设置，本发明提供的超声波探伤探头，其厚度较小，能够伸入法兰和伞裙之间，进而能够有效判断瓷绝缘子是否存在缺陷。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中支柱瓷绝缘子和超声波探伤探头示意图；

图2为本发明具体实施方式中探头内部结构示意图；

图3为本发明具体实施方式中楔块主视结构示意图；

图4为本发明具体实施方式中楔块左视结构示意图；

图1中：