[发明专利]超声诊断设备的探头自动矫正方法及系统

权利要求书

1.一种超声诊断设备的探头自动矫正方法，其特征在于，其包括如下步骤：

S1、接收开始扫查的触发信号，根据当前探头的基元数N确定扫查次数，其中，所述扫查次数等于所述基元数N；

S2、扫查获得多条对应于每个基元的回波信号，并对所述回波信号作相应处理，以获取一对应于所有基元的原始比值数列；

S3、对所述原始比值数列进行筛选以获取一对应于所有正常基元的理想比值数列，并基于所述原始比值数列及理想比值数列，计算得出所述探头中各基元的特征参数；

S4、根据所述特征参数，相应地调整探头中的各基元的发射电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S4具体为：将所述探头中各基元的发射电压调整为V_i= V_ideal/C_i，其中，1≤i≤N，V_ideal为第i个基元的理想高压幅值，C_i为第i个基元的特征参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S4具体为：对所述探头中的各基元的发射电压作1/C_i的增益补偿，其中，1≤i≤N，C_i为第i个基元的特征参数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：

去除所获取的N条回波信号中的经常空白区域、及远场低回声；

对剩余的N条回波信号加权处理，并将处理结果分别除以理想电压，以获得包括N个数值的原始比值数列。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S3中获取“理想比值数列”的步骤具体包括：

计算所述原始比值数列的平均值E、各数值的方差、均方差DataE；

判断所述原始比值数列中的各个数值是否同时满足“远小于所述平均值”、“该数值的方差远小于均方差”的条件，若是，将该数值出所述原始比值数列中剔除；若否，保留该数值。

6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，所述步骤S3中“计算特征参数”的步骤具体包括：

计算所述理想比值的均值，并基于该均值获取该探头的理想比值IDealE；

将原始比值数列中的各数值分别除以所述理想比值IDealE，以得出所述探头中对应于各基元的N个特征参数。

7.一种超声诊断设备的探头自动矫正系统，其特征在于，其包括如下单元：

触发单元、用于接收开始扫查的触发信号，并根据当前探头的基元数N确定扫查次数，其中，所述扫查次数等于所述基元数N；

比值数列获取单元、用于扫查获得多条对应于每个基元的回波信号，并对所述回波信号作相应处理，以获取一对应于所有基元的原始比值数列；

特征参数计算单元、用于对所述原始比值数列进行筛选以获取一对应于所有正常基元的理想比值数列，并基于所述原始比值数列及理想比值数列，计算得出所述探头中各基元的特征参数；

矫正单元、用于根据所述特征参数相应调整探头中的各基元的发射电压。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述矫正单元包括第一电压调整单元和/或第二电压调整单元，所述第一电压调整单元具体用于将所述探头中各基元的发射电压调整为V_i= V_ideal/C_i；所述第二电压调整单元具体用于对所述探头中的各基元的发射电压作1/C_i的增益补偿；其中，1≤i≤N，V_ideal为第i个基元的理想高压幅值，C_i为第i个基元的特征参数。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述比值数列获取单元具体包括：

信号提取单元、用于去除所获取的N条回波信号中的经常空白区域、及远场低回声；

第一计算单元、用于对剩余的N条回波信号加权处理，并将处理结果分别除以理想电压，以获得包括N个数值的原始比值数列。

10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述特征参数计算单元具体包括：

第二计算单元、用于计算所述原始比值数列的平均值E、各数值的方差、均方差DataE；

比值筛选单元、用于判断所述原始比值数列中的各个数值是否同时满足“远小于所述平均值”、“该数值的方差远小于均方差”的条件，若是，将该数值出所述原始比值数列中剔除；若否，保留该数值；

第三计算单元、用于计算所述理想比值数列的均值，基于该均值获取该探头的理想比值IDealE，并将原始比值数列中的各数值分别除以所述理想比值IDealE，以得出所述探头中对应于各基元的N个特征参数。