[发明专利]用于RCS测试的背景提取方法和装置无效

专利信息
申请号: 201210484290.2 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN102998666A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 许小剑 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 rcs 测试 背景 提取 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及雷达信号处理技术,尤其是涉及一种用于雷达散射截面RCS测试的背景提取方法和装置。

背景技术

在隐身目标的研制过程中,需要在对目标缩比模型、全尺寸目标进行静态或动态的测量,对所设计目标的RCS进行诊断测量和评估。RCS测试中,通常采用固定设置的支架以支撑目标,支架顶部安装有目标转顶以使目标旋转。在隐身目标RCS的测试中,场地和支架背景往往是影响目标RCS测量精度的主要因素,为了提高测量精度,通常需要对测量数据采用背景相减处理等技术。因此,现有的背景提取辅助测量技术要求测试系统具有测量并提取测试场和测量支架的背景回波能力。

具体来说,现有的背景提取辅助测量技术主要是在支架顶端安装一个自身可以前后平移运动的辅助测量载体。测试时,使该载体作前后平移运动,平移的距离需要与雷达波长成正比,记录雷达回波幅度和相位,供后续处理以提取出背景回波。

但是,对于大型目标RCS测试场,由于目标转顶的尺寸很大,而测量中需要把转顶掩藏于载体中,因此所设计的辅助测量载体尺寸必然很大;并且还需要设计驱动装置来驱动载体平移,这对于低频测试来说,由于波长大,该载体需要平移的距离非常大,因此不便于测试。

发明内容

本发明提供一种用于RCS测试的背景提取方法和装置,以解决现有背景提取辅助测量技术中辅助装置体积过大及辅助装置平移范围过大导致的不便于测试的问题。

本发明提供一种用于RCS测试的背景提取方法,包括:获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列;计算获取所述回波信号序列的数学期望值,所述回波信号序列的数学期望值作为所述RCS测试的背景散射波。

进一步地,该方法中,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列包括:控制直角二面角反射器绕雷达发射方向旋转至少一周,测量获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列。

进一步地,该方法中,所述测量获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号序列包括:测量获取不同极化组合下的四种回波信号:Vhh、Vvv、Vhv、Vvh,其中,Vhh为当雷达发射信号为水平极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的水平极化分量;Vvv为当雷达发射信号为垂直极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的垂直极化分量;Vhv为当雷达发射信号为水平极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的垂直极化分量;Vvh为当雷达发射信号为垂直极化的信号时,直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号的水平极化分量;所述计算获取所述回波信号序列的数学期望值,包括:分别计算获取所述Vhh、Vvv、Vhv、Vvh序列的数学期望值。

进一步地,该方法中,所述获取直角二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号之前,还包括:确定使得所述直角二面角反射器工作在光学区的直角二面角反射器的尺寸。

进一步地且优选地,该方法中,所述直角二面角反射器为矩形直角二面角反射器或菱形直角二面角反射器。

进一步地且优选地,该方法中,确定使得矩形直角二面角反射器工作在光学区的直角二面角反射器的尺寸,包括:采用公式(1)、公式(2)和公式(3)的约束条件,确定所述矩形直角二面角反射器中各矩形的宽度w和长度h:

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