[发明专利]雷达散射截面测量中的背景信号提取方法有效

专利信息
申请号: 201210483648.X 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN103064072A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 孙双锁;许小剑;李亦同 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 雷达 散射 截面 测量 中的 背景 信号 提取 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及雷达信号处理技术,尤其涉及一种雷达散射截面(Radar CrossSection,简称:RCS)测量中的背景信号提取方法。 

背景技术

在雷达散射截面(Radar Cross Section,简称:RCS)测量中背景信号的提取和背景信号的抵消是其重要环节。其中,背景信号提取的精度直接影响背景信号抵消的效果,所以背景信号提取的精度尤为重要。 

现有技术提出一种二面角反射器旋转测量以提取极化背景信号的方法,其将极化信号表示为: 

Mpq(θ)=cpqcos2θ+spqsin2θ+Bi+Ni    (11) 

其中,M为测量获取的二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号,p和q分别指水平极化方向或垂直极化方向,q表示雷达发射信号的极化方向,p表示接收天线接收的回波信号的极化方向。B为背景信号,N为噪声信号,i=1、2、3、4,cpq和spq由二面角反射器的宽和高、雷达发射信号的波长,以及归一化的交叉极化分量εH、εV决定,是同二面角反射器几何尺寸、测量系统参数等有关的物理量,在背景提取中无需求出,不同的极化方式有不同的计算方法。θ为二面角的折线在yOz平面内顺时针旋转的角度。 

再对公式(11)求数学期望: 

E{Mpq(θ)}=E{cpqcos2θ}+E{spqsin2θ}+E{Bi}+E{Ni}    (12) 

若对二面角反射器按旋转角度均匀采样且使其旋转的角度为2nπ(n≥1),则由于E{cpqcos2θ}=0,E{spqsin2θ}=0,E{Ni}=0,故 

E{Mpq(θ)}=E{Bi}    (13) 

因此,若总的测量采样数为K,则有 

Bi1KΣk=1KMpq(θk)---(14)]]>

因此,通过对K个测量样本求和取平均值,即可提取出背景信号。 

现有技术中,由于式(11)是建立在测量数据不存在任何干扰信号的假设基础上的,所得的结果与理想值存在较大偏差,即提取的背景信号的精度低,所以该算法的鲁棒性差。 

发明内容

本发明提供一种雷达散射截面测量中的背景信号提取方法,用于提取较高精度的背景信号,解决了实际工程应用中的鲁棒性差的问题。 

本发明提供一种雷达散射截面测量中的背景信号提取方法,包括: 

测量获取二面角反射器反射的雷达发射信号的回波信号; 

将所述回波信号分离成同相通道信号和正交通道信号; 

采用所述同相通道信号重构获取第一复信号,采用所述正交通道信号重构获取第二复信号; 

采用曲线拟合算法分别获取第一复信号和第二复信号的背景信号的实部信号和虚部信号; 

根据所述第一复信号的背景信号的实部信号和虚部信号,获得所述回波信号的背景信号的实部信号,根据所述第二复信号的背景信号的实部信号和虚部信号,获得所述回波信号的背景信号的虚部信号。 

进一步地,所述将所述回波信号分离成同相通道信号和正交通道信号,包括: 

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