[发明专利]一种极远紫外光源校准装置有效
申请号: | 201210478703.6 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN102998088A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 王加朋;孙红胜;宋春晖;张玉国;李世伟;魏建强;孙广尉 | 申请(专利权)人: | 北京振兴计量测试研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01J3/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100074 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 紫外 光源 校准 装置 | ||
1.一种极远紫外光源校准装置,其特征在于包括光源、汇聚摆镜单元、紫外单色仪单元和探测器单元;
所述光源包括标准极远紫外光源(1)和待测极远紫外光源(2);
所述汇聚摆镜单元包括一汇聚摆镜(4),其位于汇聚摆镜真空仓(3)内,所述汇聚摆镜(4)包括摆镜和旋转位移平台,所述摆镜包括两块非反射面贴合的凹面反射镜,其反射镜中心轴线重合,所述凹面反射镜曲面半径范围为50mm~5000mm,其中一块反射镜的反射面A镀30nm~200nm反射膜,另一块反射镜的反射面B镀60nm~200nm反射膜;
所述光源发射出的光线射入所述汇聚摆镜真空仓(3),经所述汇聚摆镜(4)反射后射入所述紫外单色仪单元,经所述紫外单色仪单元色散分光后被所述探测器单元接收。
2.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述紫外单色仪单元包括一紫外光栅(7),其位于紫外单色仪真空仓(6)内,所述紫外单色仪真空仓(6)上有一紫外单色仪入射狭缝(5)和紫外单色仪出射狭缝(8)。
3.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述探测器单元包括一标准探测器(9),其位于探测器校准真空仓(13)内。
4.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述光源和汇聚摆镜真空仓(3)之间有一压力差分单元(14)。
5.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述汇聚摆镜真空仓(3)、紫外单色仪真空仓(6)和探测器校准真空仓(13)、紫外单色仪单元、标准极远紫外光源(1)和标准探测器(9)的法兰接口尺寸形状一致。
6.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜的口径范围为10mm~500mm,半径范围为50mm~5000mm。
7.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜的两个反射镜反射面中心间距范围为1mm~200mm。
8.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜的两个反射面的反射膜为高反膜。
9.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜通过旋转位移平台进行平移和旋转运动。
10.根据权利要求4所述的汇聚摆镜,其特征在于所述在压力差分单元(14)和汇聚摆镜真空仓(3)之间还有一调节波纹管(11)。
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