[发明专利]一种极远紫外光源校准装置有效

专利信息
申请号: 201210478703.6 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN102998088A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 王加朋;孙红胜;宋春晖;张玉国;李世伟;魏建强;孙广尉 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J3/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 紫外 光源 校准 装置
【权利要求书】:

1.一种极远紫外光源校准装置,其特征在于包括光源、汇聚摆镜单元、紫外单色仪单元和探测器单元;

所述光源包括标准极远紫外光源(1)和待测极远紫外光源(2);

所述汇聚摆镜单元包括一汇聚摆镜(4),其位于汇聚摆镜真空仓(3)内,所述汇聚摆镜(4)包括摆镜和旋转位移平台,所述摆镜包括两块非反射面贴合的凹面反射镜,其反射镜中心轴线重合,所述凹面反射镜曲面半径范围为50mm~5000mm,其中一块反射镜的反射面A镀30nm~200nm反射膜,另一块反射镜的反射面B镀60nm~200nm反射膜;

所述光源发射出的光线射入所述汇聚摆镜真空仓(3),经所述汇聚摆镜(4)反射后射入所述紫外单色仪单元,经所述紫外单色仪单元色散分光后被所述探测器单元接收。

2.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述紫外单色仪单元包括一紫外光栅(7),其位于紫外单色仪真空仓(6)内,所述紫外单色仪真空仓(6)上有一紫外单色仪入射狭缝(5)和紫外单色仪出射狭缝(8)。

3.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述探测器单元包括一标准探测器(9),其位于探测器校准真空仓(13)内。

4.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述光源和汇聚摆镜真空仓(3)之间有一压力差分单元(14)。

5.根据权利要求1所述的一种极远紫外光源校准装置,其特征在于所述汇聚摆镜真空仓(3)、紫外单色仪真空仓(6)和探测器校准真空仓(13)、紫外单色仪单元、标准极远紫外光源(1)和标准探测器(9)的法兰接口尺寸形状一致。

6.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜的口径范围为10mm~500mm,半径范围为50mm~5000mm。

7.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜的两个反射镜反射面中心间距范围为1mm~200mm。

8.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜的两个反射面的反射膜为高反膜。

9.根据权利要求1所述的汇聚摆镜,其特征在于所述摆镜通过旋转位移平台进行平移和旋转运动。

10.根据权利要求4所述的汇聚摆镜,其特征在于所述在压力差分单元(14)和汇聚摆镜真空仓(3)之间还有一调节波纹管(11)。

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