[发明专利]一种Seebeck系数测试装置有效
申请号: | 201210473642.4 | 申请日: | 2012-11-20 |
公开(公告)号: | CN102967624A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 李亮亮;周阳 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01R31/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐宁;关畅 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 seebeck 系数 测试 装置 | ||
1.一种Seebeck系数测试装置,其特征在于:它包括温差实现系统和信号采集系统,所述温差实现系统包括一陶瓷底座、两加热管、一可控硅调压器和两集热铜块;所述信号采集系统包括两热电偶、铜导线、一万用表和一计算机;
所述陶瓷底座采用由一体成型的长边端和短边端构成的L型结构,所述长边端内横向间隔埋设有所述两加热管,所述两加热管分别与所述可控硅调压器连接;在所述陶瓷底座的短边端上,设置有与所述长边端垂直的所述两集热铜块,且所述两集热铜块与所述两加热管呈对应设置;在所述两集热铜块之间设置有所述两热电偶,且所述两热电偶一端分别与两路所述铜导线一端焊接成一个结点,该结点与所述陶瓷底座的长边端上表面之间夹设有试样,所述两热电偶另一端穿设在所述陶瓷底座的短边端内,并连接所述万用表的温度采集通道;两路所述铜导线另一端穿过所述陶瓷底座的短边端,依次连接所述万用表的电压采集通道和计算机,通过所述万用表将采集到的试样温度和电压信号通过GPIB接口输入至所述计算机内实时显示并记录。
2.如权利要求1所述的一种Seebeck系数测试装置,其特征在于:所述两热电偶均采用直径为0.255mm的K型热电偶。
3.如权利要求1或2所述的一种Seebeck系数测试装置,其特征在于:所述万用表采用具有六位半精度的34970A万用表。
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