[发明专利]一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量方法及系统

权利要求书

1.一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量方法，其特征在于，在所述隐蔽转轴端面上固定安装一平面反射镜，该平面反射镜镜面与隐蔽转轴端面垂直；用激光照射所述平面反射镜，并匀速旋转所述隐蔽转轴，利用面阵光电位置传感器采集平面反射镜反射的光点位置信号，光点位置信号在时间轴上的轨迹为一个弦；根据所述弦的高度与隐蔽转轴与端面垂直度之间存在的对应关系确定所述隐蔽转轴与端面垂直度，弦的高度越大，隐蔽转轴与端面垂直度越小。

2.如权利要求1所述隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量方法，其特征在于，在所述平面反射镜与面阵光电位置传感器之间的反射光路上设置有一透镜组；所述透镜组包括平行设置的第一平凸柱面透镜和第二平凸柱面透镜，第一平凸柱面透镜的光心到平面反射镜中心的距离大于第一平凸柱面透镜的焦距f₁，小于2f₁；第二凸柱面透镜的光心到面阵光电位置传感器光敏面之间的距离等于第二凸柱面透镜的焦距f₂。

3.一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量系统，其特征在于，包括：

平面反射镜，固定安装于所述隐蔽转轴端面上，该平面反射镜镜面与隐蔽转轴端面垂直；

激光器，用于向所述平面反射镜发射激光；

面阵光电位置传感器，用于采集所述平面反射镜反射的激光光点的位置信号。

4.如权利要求3所述隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量系统，其特征在于，该系统还包括设置于所述平面反射镜与面阵光电位置传感器之间的反射光路上的透镜组；所述透镜组包括平行设置的第一平凸柱面透镜和第二平凸柱面透镜，第一平凸柱面透镜的光心到平面反射镜中心的距离大于第一平凸柱面透镜的焦距f₁，小于2f₁；第二凸柱面透镜的光心到面阵光电位置传感器光敏面之间的距离等于第二凸柱面透镜的焦距f₂。