[发明专利]一种空间通用存储器单粒子效应监测系统

说明书

技术领域

本发明的一种空间通用存储器单粒子效应监测系统，属于空间辐射效应与加固技术领域。

背景技术

众所皆知，空间辐射环境诱发的单粒子效应是影响航天器存储系统性能的重要因素之一，直接影响航天器在轨效能发挥及安全性能。

随着航天技术的不断发展，大量高性能、低功耗的存储器应用于航天器，在航天器的数据存储、在轨管理等方面发挥着重要作用。同时由于航天器长寿命、高可靠性以及低成本需求的不断显现，其对存储器件在空间的应用需求越来越广泛。但是随着半导体工艺技术的不断发展，一方面可用于空间的存储器种类繁多；另一方面器件的集成度越来越高，其特征尺寸不断减小，这些变化都使得器件对单粒子效应更加敏感，因此，需要对电子器件的单粒子效应进行评价，以满足航天器工程发展的需求。同时，由于器件的工作温度会影响器件的单粒子效应敏感性，对存储器性能的发挥也会带来一定的影响，这对电子器件的单粒子效应评价提出了更高的需求。

目前，在进行存储器单粒子效应的地面评价时，都依据存储器的类型研制不同的监测系统，这样重复研制监测系统一方面浪费资源，增加了研制成本；另一方面也影响了型号任务的研制进度。因此，为了有效节约资源、降低成本，提高存储器件的地面利用率和测试效率，便捷、高效地开展不同类型存储器的单粒子效应评价，提出了一种基于虚拟仪器技术的通用的单粒子效应监测系统，可实现在实验室模拟源辐照条件下获取空间通用存储器的单粒子效应特征参数，为被测器件的空间应用提供重要的技术支撑。

发明内容

本发明针对空间用不同类型存储器的单粒子效应问题，设计了一种空间通用存储器单粒子效应监测系统，能够针对不同种类的存储器设计不同的软件监测模块，利用虚拟仪器的通道重定义功能扩展不同类型存储器的通用性，可以便捷地实现对不同类型存储器单粒子效应试验的评价，以满足航天器型号任务研制的需求。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的。

本发明的一种空间通用存储器单粒子效应监测系统，包括上位机、嵌入式控制器、可编程直流电源、数据采集模块、高速数字波形产生器及分析仪、温度采集模块、译码器A和译码器B、16个继电器、针接口和测试板；上位机与嵌入式控制器相连，嵌入式控制器分别于高速数字波形产生器及分析仪、数据采集模块、可编程直流电源、温度采集模块相连，数据采集模块分别与译码器A和译码器B相连，针接口分别与高速数字波形产生器及分析仪、译码器A和测试板相连，16个继电器分别与译码器B、可编程直流电源以及测试板相连，温度采集模块的输出端与测试板相连；

其工作方式如下：系统上电，被测器件进入正常工作状态，上位机设定试验初始化参数，在嵌入式控制器的指令控制下，系统进行初始化操作；上位机通过嵌入式控制器对高速数字波形发生器及分析仪中通道进行重新定义，选取试验方案规定的能量或线性能量传输LET值以及注入率，并确定测试位置点；对测试板上的测试芯片进行辐照试验，第一路为在嵌入式控制器的控制指令下译码器B控制继电器的开关状态，并利用16个继电器完成对测试板上的测试芯片供电电源的监控，并将监控结果通过译码器B传给数据采集模块，数据采集模块通过嵌入式控制器将相关数据传给上位机，第二路为利用译码器A得到16个测试板插座的片选信号后，传给数据采集模块，再通过嵌入式控制器给上位机，第三路为温度采集模块实时采集测试板上的测试芯片运行时的工作温度，并将其采集结果通过嵌入式控制器给上位机，通过获取器件工作温度与对器件单粒子效应的影响，以表征温度对单粒子效应特征参数的相互关系；上位机根据设定的阈值和第一路传来的信号，判断功耗电流是否超过判断值，判断是否发生了单粒子锁定（SEL），如果是，则记录数据，再结合第二路传来的片选信号，如果没有收到任何片选信号，说明系统死机，被测芯片发生了不可恢复的失效，试验结束；如果收到了第二路传来的片选信号，说明系统没有死机，则系统复位；如果没有发生单粒子锁定（SEL），则进一步判断是否发生单粒子翻转（SEU），由高速数字波形发生器及分析仪读取被测芯片的数据，并与上位机中的初始值进行比对，若比对结果不一致，则认为发生了单粒子翻转现象，接着统计错误个数、错误地址，并判断记录的错误数是否达到规定值，如果达到规定值，则试验结束，并将结果上位机以字符形式显示，如果没有达到规定值，则检查器件所需的注入量是否达到要求，如果没有达到要求，则重新确定测试位置点，如果达到要求，则观察是否满足试验规定的能量要求，如果是，则试验结束，如果不是则选取下一组数据点，并重新确定测试位置点。