[发明专利]光模块信息的修复方法和装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及通信技术领域，尤其涉及一种光模块信息的修复方法和装置。

背景技术

在光网络通信系统中，网络设备通常通过光模块进行光信号的接收和发送。光模块的存储器中存储有光模块的信息，在通讯过程中，网络设备会读取光模块中存储的相关信息，以进行相应工作参数的配置。

现有技术中，网络设备通过集成电路（Inter-Integrated Circuit，以下缩写为IIC）总线读取光模块的存储器中存储的信息，光模块的存储器通常为电可擦可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，以下缩写为EEPROM）。IIC信号形式的读写操作码中高电平表示读操作，低电平表示写操作。但是，IIC总线作为一种低频通讯总线，易受外界干扰，可靠性较低，因此在在通过IIC总线读取光模块的信息的过程中，当IIC信号受到干扰时，读操作码容易发生信号跳变而变成写操作码，导致光模块中的存储器中存储的信息被更改，网络设备无法读取到正确的信息，造成光模块的访问失败，进而无法进行正确的工作配置，引起流量中断，影响业务。

发明内容

本发明实施例提供一种光模块信息的修复方法和装置，用于对存储器中被异常改写的光模块信息进行重新修复。

第一方面，本发明实施例提供一种光模块信息的修复方法，包括：

从光模块的存储器中获取待校验数据和所述待校验数据的原始校验和，计算得到所述待校验数据的校验和，将计算得到的校验和与所述原始校验和进行比较，若不同，则从所述存储器中获取类型识别信息，其中，所述类型识别信息用于标识所述光模块的类型；

从光模块信息库获取与所述类型识别信息相对应的光模块数据；

将所述光模块数据重新写入所述存储器。

在第一种可能的实现方式中，所述计算得到所述待校验数据的校验和，具体可以为：

将所述待校验数据以字节为单位求和，将所述和的最低字节的数据作为所述校验和。

在第二种可能的实现方式中，所述从光模块的存储器中获取待校验数据和所述待校验数据的原始校验和之前，所述方法还包括：

建立所述光模块信息库，其中，所述光模块信息库中记录有多个光模块的类型分别对应的光模块数据。

在第三种可能的实现方式中，所述从光模块的存储器中获取待校验数据和所述待校验数据的原始校验和，具体可以为：

以预设时间间隔从所述光模块的存储器中获取待校验数据和所述待校验数据的原始校验和；或者，

通过中断模式从所述光模块的存储器中获取待校验数据和所述待校验数据的原始校验和。

结合第一方面或第一方面的第一至第三任一种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述类型识别信息可以为：

产品出厂序列号；或者，

厂家名称、波长、工作速率、传输距离和工作模式的组合。

结合第一方面或第一方面的第一至第三任一种可能的实现方式，在第五种可能的实现方式中，所述待检验数据为所述存储器的第一片区中第0字节到第62字节中存储的数据，所述原始校验和为所述第一片区中第63字节中存储的数据；或者，

所述待检验数据为所述存储器的第一片区中第64字节到第94字节中存储的数据，所述原始校验和为所述第一片区中第95字节中存储的数据；或者，

所述待检验数据为所述存储器的第二片区中第0字节到第94字节中存储的数据，所述原始校验和为所述第二片区中第95字节中存储的数据。

第二方面，本发明实施例提供一种光模块信息的修复装置，包括：

计算识别模块，用于从光模块的存储器中获取待校验数据和所述待校验数据的原始校验和，计算得到所述待校验数据的校验和，将计算得到的校验和与所述原始校验和进行比较，若不同，则从所述存储器中获取类型识别信息，其中，所述类型识别信息用于标识所述光模块的类型；

获取模块，用于从光模块信息库获取与所述类型识别信息相对应的光模块数据；

修复模块，用于将所述光模块数据重新写入所述存储器。

在第一种可能的实现方式中，所述计算识别模块，具体用于：

将所述待校验数据以字节为单位求和，将所述和的最低字节的数据作为所述校验和。

在第二种可能的实现方式中，所述光模块信息的修复装置，还可以包括：

建库模块，用于建立所述光模块信息库，其中，所述光模块信息库中记录有多个光模块的类型分别对应的光模块数据。