[发明专利]一种高低温真空校准装置及方法有效
申请号: | 201210451251.2 | 申请日: | 2012-11-12 |
公开(公告)号: | CN102944358A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 孙雯君;冯焱;成永军;赵澜;马奔;马亚芳 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
主分类号: | G01L27/00 | 分类号: | G01L27/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 杨志兵;付雷杰 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低温 真空 校准 装置 方法 | ||
1.一种高低温真空校准装置,其特征在于:所述装置包括:标准真空计(1)、三通连接件(2)、被校真空计(3)、高低温真空校准室(4)、监测真空计(5)、温度控制板(6)、制冷系统(7)、抽气机组(8)、阀门(9)、供气系统(10)、微调阀(11);
三通连接件(2)包括A、B、C三个开口端,其中,C端为进气端,C端位于A端和B端之间的直管的中间,与直管垂直,且C端到A、B两端的距离相等,A、B两端的内径相等,A端与标准真空计(1)连接,B端与被校真空计(3)连接,被校真空计(3)固定在温度控制板(6)上,温度控制板(6)与制冷系统(7)连接,三通连接件(2)、被校真空计(3)和温度控制板(6)置于高低温真空校准室(4)内,监测真空计(5)与高低温真空校准室(4)连接,抽气机组(8)通过阀门(9)与高低温真空校准室(4)连接,供气系统(10)通过微调阀(11)与高低温真空校准室(4)连接。
2.根据权利要求1所述的一种高低温真空校准装置,其特征在于:所述供气系统(10)为气瓶或气袋,高低温真空校准室(4)为多层反射保温绝热材料,温度控制板(6)为缠有加热电阻丝的紫铜板,阀门(9)为超高真空全金属插板阀;微调阀(11)为超高真空全金属微调阀(11),标准真空计(1)包含三个测量准确度为满量程的0.05%电容薄膜型真空计,满量程分别为0.02Torr、10Torr、1000Torr;制冷系统(7)采用低温泵一级冷头和压缩机组合的制冷方案;抽气机组(8)采用涡轮分子泵和机械泵组合的抽气方案。
3.一种采用权利要求1所述的高低温真空校准装置的校准方法,其特征在于:所述方法步骤如下:
①打开标准真空计(1)和监测真空计(5),使标准真空计(1)稳定24小时;
②启动抽气机组(8),打开阀门(9),对高低温真空校准室(4)及管道进行抽气;当监测真空计(5)读数显示高低温真空校准室(4)的真空度小于1×10-6Pa的极限真空度时,保持校准室的状态等待后续操作;
③打开微调阀(11),将供气系统(10)中的校准气体引入到高低温真空校准室(4)中,当高低温真空校准室(4)中的气体压力达到平衡,且标准真空计(1)读数达到所需的校准压力时,关闭微调阀(11);启动制冷系统(7)和温度控制板(6),当高低温真空校准室(4)内温度平衡且达到所需的校准温度时,关闭制冷系统(7)和温度控制板(6),保持高低温校准室内的温度状态;待校准室中气体压力达到平衡后,分别记录标准真空计(1)的压力读数p1和被校真空计(3)所显示的压力读数p2;
根据式(I)计算得到高低温真空校准室(4)的标准压力,
式中:p-高低温真空校准室(4)的标准压力,单位:Pa;
T1-标准真空计(1)所处的外界环境温度,单位:K;
T-高低温真空校准室(4)内温度,单位:K;
根据式(II)计算校准因子,
式中,c-为校准因子,无量纲;
其中,步骤③中所述校准压力与被校真空计(3)的测量范围有关,校准温度范围为-140℃~+100℃。
4.根据权利要求3所述的一种采用高低温真空校准装置的校准方法,其特征在于:重复步骤③,每次选取不同的校准压力和校准温度,进行多次测量,再将每一次测量计算得到的校准因子取平均值。
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