[发明专利]一种单板热插拔检测方法及装置有效
申请号: | 201210450564.6 | 申请日: | 2012-11-12 |
公开(公告)号: | CN102955733A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 刘如民;宋海华;陈华;高雪杰 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;H03K21/38 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 张颖玲;蒋雅洁 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单板 热插拔 检测 方法 装置 | ||
1.一种单板热插拔检测方法,其特征在于,获取单板在位信息,还包括:根据单板在位信息的变化及持续时间确定单板插拔检测结果。
2.根据权利要求1所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,所述单板在位信息为单板在位信号;所述根据单板在位信息的变化及持续时间确定单板插拔检测结果具体包括:
预先设置时长阈值,检测单板在位信号变化后的状态的持续时间,并与时长阈值进行比较,根据比较结果及单板在位信号变化后的状态,确定单板插拔检测结果。
3.根据权利要求2所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,在所述根据单板在位信息的变化及持续时间确定单板插拔检测结果之前,该方法还包括:对所述获得的单板在位信息进行滤波处理。
4.根据权利要求2或3所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,所述检测单板在位信号变化后的状态的持续时间为:对所述变化后的单板在位信号持续时间进行计数。
5.根据权利要求4所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,
当所述单板的初始状态为单板在位状态,正常拔单板或慢速拔单板或快速拔单板,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次拔板检测结果;
当所述单板的初始状态为单板在位状态,正常的插拔替换,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次拔板检测结果和一次插板检测结果;
当所述单板的初始状态为单板在位状态,快速拔插单板,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次插板检测结果;
当所述单板的初始状态为单板在位状态,快速拔插拔单板,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次拔板检测结果;
当所述单板的初始状态为单板不在位状态,正常插单板或慢速插单板或快速插单板,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次插板检测结果;
当所述单板的初始状态为单板不在位状态,正常的插拔替换,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次插板检测结果和一次拔板检测结果;
当所述单板的初始状态为单板不在位状态,快速插拔单板,所述确定单板插拔检测结果为:不产生检测结果;
当所述单板的初始状态为单板不在位状态,快速插拔插单板,所述确定单板插拔检测结果为:产生一次插板检测结果。
6.根据权利要求5所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,所述时长阈值包括:第一时间阈值Th1和第二时间阈值Th2,对应在位信号高电平时间阈值,Th1小于Th2;第三时间阈值Tl1和第四时间阈值Tl2,对应在位信号低电平时间阈值,Tl1小于Tl2;
所述单板插入时,单板在位信号由高电平变为低电平,低电平持续时间为tl;所述单板拔出时,单板在位信号由低电平变为高电平,高电平持续时间为th;
所述确定单板插拔检测结果具体包括:
若所述低电平持续时间tl小于第三时间阈值Tl1,则不产生单板插拔检测结果;
若所述低电平持续时间tl大于第四时间阈值Tl2,则产生插板检测结果;
若所述低电平持续时间tl介于第三时间阈值Tl1和第四时间阈值Tl2之间,则不产生单板插拔检测结果;
若所述高电平持续时间th小于第一时间阈值Th1,则不产生单板插拔检测结果;
若所述高电平持续时间th大于第二时间阈值Th2,则产生拔板检测结果;
若所述高电平持续时间th介于第一时间阈值Th1和第二时间阈值Th2之间,则不产生单板插拔检测结果。
7.根据权利要求2或3所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,当所述变化后的单板在位信号再次发生变化时,对所述计数结果清零。
8.根据权利要求7所述的单板热插拔检测方法,其特征在于,该方法还包括清除所述单板插拔检测结果。
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