[发明专利]一种掺镨氟化钇锂晶体生长方法无效

专利信息
申请号: 201210448986.X 申请日: 2012-10-31
公开(公告)号: CN102925973A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 王冬;胡卫东 申请(专利权)人: 合肥嘉东科技有限公司
主分类号: C30B29/12 分类号: C30B29/12;C30B15/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 氟化 晶体生长 方法
【说明书】:

技术领域:

发明涉及单晶生长技术领域,尤其涉及一种掺镨氟化钇锂晶体生长方法。

背景技术:

Pr:YLF为四方晶系白钨矿结构,YLF在强紫外光辐照下不会发生光损伤,掺入镨离子,可实现室温下激光跃迁,发射激光波长为607nm和640nm,目前国内采用坩埚下降法制取,通过电阻加热,熔化在坩埚内的混合原料,通过下种,缩颈,等径等操作,生长出一定方向的晶体,但是用坩埚下降法制取的Pr:YLF容易产生开裂,晶体生长完整性差、尺寸小,难以实现工业化生产。

发明内容:

本发明是为了克服背景技术所存在的不足之处,提出一种生长晶体完整性好,无气泡无包络物,晶体尺寸大,不易开裂,成品率高。

本发明提出的一种掺镨氟化钇锂晶体生长方法,包括以下步骤:

将PrF3和LiF、YF3混合粉体和种晶放入铂坩埚;

将铂坩埚放入单晶炉中,将单晶炉内通入氮气;

采用开放式提拉法生长掺鐠氟化钇锂单晶。

所述的PrF3和LiF、YF3的纯度均>99.99%。

所述的PrF3和LiF、YF3摩尔比为0.02∶1∶0.98。

所述的铂坩埚放入单晶炉后在300℃中处理2小时。

所述的铂坩埚厚度为0.5-0.8mm。

所述的种晶为A方向YLF单晶。

所述的采用开放式提拉法生长掺鐠氟化钇锂时,炉温控制在600-1000℃,生长温度梯度在60-90℃/cm,上升速度0.5mm/h。

本发明的有益效果是:

本发明与现有技术相比,生长过程中挥发物少,生长晶体完整性好,无气泡无包络物,成品率高,晶体尺寸大,不易开裂,工艺设备简单,能耗低,有利于实现工业化生产。

附图说明:

图1为本发明的工艺流程示意图。

具体实施方式:

参照图1,为本发明的工艺流程示意图。

实施例1:本实施例按如下步骤进行:

1、将纯度大于99.99%,摩尔比为0.02∶1∶0.98的PrF3和LiF、YF3粉体混合后与A方向YLF单晶放入到厚度为0.5mm的铂坩埚中。

2、将铂坩埚放入单晶炉中,升温至300℃持续2小时,然后将单晶炉内通入氮气,再继续升温至原料完全熔化。

3、当原料完全熔化后,将炉温控制在600℃,然后用YLF单晶以10cm/h的速度下种、生长温度梯度为60℃/cm、上升速度0.5mm/h的开放式提拉法生长掺鐠氟化钇锂,生长周期10天得到Pr:YLF晶体。经测得晶体密度3.99g/cm3,熔点980℃。莫氏硬度4-5,热导率0.06W/cm·K,折射率n0=1.433。

实施例2:本实施例按如下步骤进行:

1、将纯度大于99.99%,摩尔比为0.02∶1∶0.98的PrF3和LiF、YF3粉体混合后与A方向YLF单晶放入到厚度为0.8mm的铂坩埚中。

2、将铂坩埚放入单晶炉中,升温至300℃持续2小时,然后将单晶炉内通入氮气,再继续升温至原料完全熔化。

3、当原料完全熔化后,将炉温控制在1000℃,然后用YLF单晶以10cm/h的速度下种、生长温度梯度为90℃/cm、上升速度0.5mm/h的开放式提拉法生长掺鐠氟化钇锂,生长周期10天得到Pr:YLF晶体。经测得晶体密度3.99g/cm3,熔点980℃。莫氏硬度4-5,热导率0.06W/cm·K,折射率n0=1.433。

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