[发明专利]砂岩储层非均匀损害深度的计算方法有效

专利信息
申请号: 201210448956.9 申请日: 2012-11-12
公开(公告)号: CN103806904A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 王新海;张福祥;李公让;孙玉;刘洪 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;长江大学;中国石油大学(北京)
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/00;E21B47/04
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人: 熊成香
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 砂岩 储层非 均匀 损害 深度 计算方法
【说明书】:

技术领域:

发明涉及一种砂岩储层非均匀损害深度的计算方法,属油气勘探开发储层保护技术领域。

背景技术:

在油气勘探开发过程中,储层损害是指近井壁带流出或注入的流体的流动阻力增加或流动速度下降,使储层达不到预定的产量或注入量。储层损害的核心问题是由于钻井液、完井液、修井液等的性质不佳,使用不当,改变了储层的岩石结构、表面性质、甚至引起润湿性和流体相态的变化;或由于各种工作液的滤液和储层中的流体发生化学反应,造成各种垢的沉淀聚集,或由于外部各种固相颗粒的侵入及各种原因引起储层微粒的分散运动等。探井在钻开储集层后,钻井作业方式和钻井液的优劣将直接影响到储层的产能。

目前,通常用来计算储层的损害深度,但该式假设储层为均匀损害,即损害区内的渗透率为常数。而实际上储层损害是非均匀的,即损害区内的渗透率为变数,越靠近井壁储层损害越严重。储层损害深度是决定增产措施的依据。

发明内容:

为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种砂岩储层非均匀损害深度的计算方法,可计算砂岩储层非均匀损害的损害深度,使其更加符合实际,对储层保护效果评价具有重要意义。

本发明是通过如下技术方案来实现上述目的的。

(1)资料数据的收集

收集井身参数、边界参数、地层参数、流体参数、射孔参数、生产参数;

收集的具体参数名称为:井名、井段、井型、井斜角、井半径、两相区外半径、总表皮系数、单相与两相渗透率的比值、边界类型、边界夹角、距第1条边界距离、距第2条边界距离、地层特性、孔隙度、几何形状因子、地层厚度、打开的地层厚度、综合压缩系数、地层压力敏感系数、外域渗透率、垂直渗透率、水平渗透率、原始渗透率、流体体积系数、流体粘度、流体地面密度、紊流系数、非达西流系数、射孔相位角、充填砾石渗透率、射孔深度、射孔总数、子弹半径、井底流压、地层原始压力、霍纳斜率、生产时间、产量。

(2)地层损害表皮系数的求得

将总表皮系数S进行分解,求得地层损害表皮系数Sd,即

Sd=S-Spt-Spf-SnD-SCA-Sθ-Scp-San-Sb-Svq-Sp

式中:S-总表皮系数;Spt-部分打开表皮系数;Spf-射孔表皮系数;SnD-非达西表皮系数;SCA-油藏形状表皮系数;Sθ-井斜表皮系数;Scp-相变表皮系数;San-各向异性表皮系数;Sb-边界表皮系数;Svq-变产量表皮系数;Sp-压敏表皮系数。

①部分打开表皮系数

Spt=(hhp-1)[ln(hrwkkv)-2]]]>

式中:h-地层厚度,m;hp-打开的地层厚度,m;k-水平渗透率,μm2;kv-垂向渗透率,μm2

②井斜表皮系数

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