[发明专利]GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构有效

专利信息
申请号: 201210443733.3 申请日: 2012-11-08
公开(公告)号: CN102969387A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 王伟明;颜建;吴文俊;李华 申请(专利权)人: 王伟明;国电科技环保集团股份有限公司
主分类号: H01L31/0725 分类号: H01L31/0725
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙纪泉
地址: 214000 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: gainp gaas ingaas 太阳能电池 外延 结构
【权利要求书】:

1.一种GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构,其特征在于,包括:

衬底(101);

在衬底(101)上的腐蚀剥离层(a);

在腐蚀剥离层(a)上的GaInP第一子电池(b);

在第一子电池(b)上的第一隧穿结(c);

在第一隧穿结(c)上的GaAs第二子电池(d);

在第二子电池(d)上的晶格过渡层(e),其中该晶格过渡层的材料为晶格常数在0.5656nm-0.579nm之间且同时禁带宽度Eg满足Eg>1.4eV的III-V族材料;

在晶格过渡层(e)上的第二隧穿结(f);和

在第二隧穿结(f)上的InGaAs第三子电池(g)。

2.根据权利要求1所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构,其特征在于,所述衬底(101)为GaAs衬底。

3.根据权利要求2所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构,其特征在于,还包括:

生长在GaAs衬底(101)上的一层GaAs缓冲层(102),并且所述腐蚀剥离层(a)由在GaAs缓冲层(102)上外延生长的AlxGa1-xAs形成,其中0.7≤x≤1;和

生长在所述AlxGa1-xAs腐蚀剥离层(a)上的一层N型掺杂GaAs欧姆接触层(104)。

4.根据权利要求3所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构,其特征在于,

所述第一子电池(b)包括:

生长在欧姆接触层(104)上的N型掺杂AlInP第一窗口层(105);

生长在第一窗口层(105)上的N型掺杂GaInP第一发射区(106);

生长在第一发射区(106)上的P型掺杂GaInP第一基区(107);和

生长在第一基区(107)上的P型掺杂AlGaInP第一背场区(108),

所述第一隧穿结(c)包括:

生长在第一背场区(108)上的第一P型高掺杂AlGaAs层(109);和

生长在第一P型高掺杂AlGaAs层(109)上的第一N型高掺杂GaInP层(110)。

5.根据权利要求4所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构,其特征在于,所述第二子电池(d)包括:

生长在第一N型高掺杂GaInP层(110)上的N型掺杂GaInP第二窗口层(111);

生长在第二窗口层(111)上的N型掺杂GaAs第二发射区(112);

生长在第二发射区(112)上的P型掺杂GaAs第二基区(113);和

生长在第二基区(113)上的P型掺杂AlGaAs第二背场区(114)。

6.根据权利要求5所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池外延结构,其特征在于,

所述晶格过渡层(e)为生长在第二背场区(114)上的P型掺杂的晶格过渡层;并且

该晶格过渡层(e)的材料为AlInGaAs、GaInP、AlGaInP、GaInPAs或AlGaInAsP。

7.根据权利要求6所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池结构,其特征在于,

所述P型掺杂的晶格过渡层(e)的晶格常数沿晶格过渡层的厚度方向从底面向顶面逐渐增加。

8.根据权利要求7所述的GaInP/GaAs/InGaAs三结太阳能电池结构,其特征在于,

所述P型掺杂的晶格过渡层(e)的晶格常数沿晶格过渡层的厚度方向从底面向顶面按长度计从0.5656nm增加至0.579nm。

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