[发明专利]电机绕组检测装置无效
申请号: | 201210443369.0 | 申请日: | 2012-11-08 |
公开(公告)号: | CN103529385A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 林佳庆 | 申请(专利权)人: | 赐福科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34 |
代理公司: | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人: | 徐丽昕 |
地址: | 中国台湾新北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电机 绕组 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种检测电机绕组的装置。
背景技术
电机质量之差异,定子绕组乃占绝大部分。现在的电机绕组加工仍以半自动化居多,在符合大量生产的需求下对于质量的管控具有一定的难度。以往电机都是在成品形成后才进行加载测试,此时若发生绕组不良,重工成本较高。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种能在得到电机成品之前即可对电机绕组进行检测的装置。
一种电机绕组检测装置,包括:
一马达;
一测试棒,该测试棒在转动时产生稳定的旋转磁场,该测试棒用于穿过一待测电机绕组;
一联轴器,用于连接马达与测试棒,以使得马达带动测试棒旋转;以及
一处理器,与待测电机绕组相连,用于在测试棒旋转时得到待测电机绕组所产生的反电动势,其中该待测电机绕组包括一定子硅钢片及若干绕线,待测电机绕组所产生的反电动势满足以下公式:
,其中为反电动势,为待测电机绕组的磁极的数量,为待测电机绕组的绕线匝数,为测试棒与待测电机绕组间的磁通密度,为待测电机绕组中定子硅钢片的厚度,为待测电机绕组中定子硅钢片的内径,为测试棒的转速;该处理器内存储有一反电动势的标准值,该处理器用于将得到的待测电机绕组所产生的反电动势与标准值进行比较,若待测电机绕组所产生的反电动势达到标准值,则判断待测电机绕组合格。
上述电机绕组检测装置通过将测试棒穿过待测电机绕组,并通过马达带动测试棒旋转,即可使得待测电机绕组产生反电动势。之后再通过处理器对产生的反电动势进行计算处理之后即可判断该待测电机绕组是否合格。上述电机绕组检测装置可在得到电机成品之前即对电子绕组进行检测。
附图说明
图1是本发明电机绕组检测装置的方框图。
主要元件符号说明
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述:
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