[发明专利]一种在编程时对芯片进行测试的方法及测试系统

权利要求书

1.一种在编程时对芯片进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：

将芯片与烧写器相连；

将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出；

对所述芯片进行第一检测，以获得所述芯片的第一输出数据；

向所述芯片施加磁场，并将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出；

对所述芯片进行第二检测，以获得所述芯片的第二输出数据；

撤除所述磁场；

以及根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值，并根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在撤除所述磁场之后还包括：

对所述芯片中保存的所述第一写入值进行校验；

当校验正确之后，将所述第一写入值和第二写入值烧写至所述芯片。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁场为均匀磁场，且垂直于所述芯片的平面方向。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一检测和第二检测中，分别均采用以下公式计算对所述芯片的测试结果：

其中，理论值为输入均匀磁场所对应的产品理论直线上的值，拟合值为输入均匀磁场所对应的产品拟合直线上的值，其中，拟合直线为对所有的实际输出点进行最小二乘法线性拟合所得到的直线，额定满量程输出为在额定匀强磁场下芯片的额定输出值。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一写入值和第二写入值在测试时由操作人员设定。

6.一种芯片编程及测试系统，其特征在于，包括：

烧写器，所述烧写器与芯片相连，用于将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出，并在所述芯片被施加磁场时，将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出；

磁场控制器，用于控制向所述芯片施加磁场；

数据采集卡，所述数据采集卡与所述芯片相连，用于获得所述芯片在没有被施加磁场且进行第一检测时获得的第一输出数据，以及获得所述芯片在被施加磁场且进行第二检测时获得的第二输出数据；

计算器，所述计算器与所述数据采集卡相连，用于分别根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值，以及根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。

7.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，所述烧写器还用于在撤除所述磁场之后对所述芯片中保存的所述第一写入值进行校验，并在校验正确之后将所述第一写入值和第二写入值烧写至所述芯片。

8.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，所述磁场为均匀磁场，且垂直于所述芯片的平面方向。

9.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，在所述第一检测和第二检测中，分别均采用以下公式计算对所述芯片的测试结果：

其中，理论值为输入均匀磁场所对应的产品理论直线上的值，拟合值为输入均匀磁场所对应的产品拟合直线上的值，其中，拟合直线为对所有的实际输出点进行最小二乘法线性拟合所得到的直线，额定满量程输出为在额定匀强磁场下芯片的额定输出值。

10.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，所述第一写入值和第二写入值在测试时由操作人员设定。