[发明专利]用于闪烁探测器的位置表生成方法有效
申请号: | 201210436594.1 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN102981179A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 王海鹏;柴培;刘双全;黄先超;李道武;张玉包;章志明;单保慈;魏龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202;G01T3/06;G06T7/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 张龙哺;冯志云 |
地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 闪烁 探测器 位置 生成 方法 | ||
1.一种闪烁探测器的位置表生成方法,其特征在于,包括:
步骤S1:根据闪烁探测器的散点图的数据,采用区域提取的方式,寻找该闪烁探测器中的每个晶体条在散点图中对应的标记点;
步骤S2:根据所述标记点在散点图中的二维坐标,对所有的标记点进行相对位置二维排序;
步骤S3:确定散点图中的位置表边界点,每个所述位置表边界点是由四个相邻的标记点的平均位置而确定;
步骤S4:依次连接各个位置表边界点,生成位置表。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该步骤S1包括:
采用区域提取的方式,将散点图划分为与晶体条对应的互不连通的多个区域;
将每个区域提取出来,并计算各区域的几何中心作为与区域对应的晶体条的标记点。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,该步骤S1包括:
在散点图的各像素中,提取出光子入射事例计数值大于平均值的像素,
从提取出的像素中进一步筛选出光子入射事例计数值大于预设临界值的像素,取值为特定值A;而散点图中的其余像素取值为特定值B;以获得散点图的二值图像;其中,A与B取值不同;
采用递归的方法在该二值图像中计算每个晶体条的标记点,计算方法包括:
当搜索到一像素的取值为A时,记录该像素的坐标并置为B,判断其周围8个像素的取值情况;
若该8个像素中的某一像素取值为A,则记录该像素的坐标并置为B,并继续判断它周围8个像素的取值情况,若取值为A则进行记录并置为B;循环执行上述步骤,直到周围8个像素都为B时停止,被记录的各像素构成本次提取的区域;
将该区域内的各像素的坐标取平均得到一平均坐标,将该平均坐标作为该区域所对应的晶体条的标记点的坐标。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,该计算方法中,若提取到的一区域中只有一个像素点,则将该区域视为假峰排除。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该步骤S2包括:
对各标记点进行二维排序时,根据前一个标记点的位置排序后一个标记点;该排序方法包括:
按照各标记点的纵坐标将各标记点排列成m×n阵列;
循环执行以下步骤,依次对每行标记点进行排序:
提取阵列中第i行和i+1行的标记点;(i=0,1,2,…,m–2);
从提取的标记点中选取距离该散点图的二维坐标原点最近的点作为(i,0)点;
循环执行以下步骤依次对各标记点进行排序:
从提取的第j到2n个标记点中选择满足以下情况的两个点:横坐标大于(i,j–1)点的横坐标,与(i,j–1)点的横坐标距离大于纵坐标距离;(j=1,2,…,n–1);
设两个点中距离(i,j–1)点最近的为P1,次近的为P2;判断P1和P2的横坐标间距Δx和纵坐标间距Δy;若Δx>Δy,则取P1点为(i,j)点;否则,取P1、P2中纵坐标较小的作为(i,j)点。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该步骤S3包括:
在选取位置表边界点时,计算相邻四个标记点的平均位置,并采用向上或向下取整的方式得到位置表边界点。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:
进行边界分配,若选取位置表边界点时采用了向上取整的方式,则将每个区域的左边界和下边界归在该区域,右边界和上边界归在其相邻的区域;若选取位置表边界点采用了向下取整,则将每个区域的右边界和上边界归在该区域,左边界和下边界归在其相邻的区域。
8.如权利要求3所述的方法,其特征在于,在获得散点图的二值图像之前,还包括:对所述提取出的光子入射事例计数值大于平均值的像素,进行局部归一化处理、均衡化处理和平滑滤波处理。
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