[发明专利]用于确定上电复位的方法和装置有效
| 申请号: | 201210433242.0 | 申请日: | 2012-11-02 |
| 公开(公告)号: | CN103793032B | 公开(公告)日: | 2017-09-29 |
| 发明(设计)人: | 夏述堰;谢良;吴艳琴 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F1/24 | 分类号: | G06F1/24 |
| 代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司11329 | 代理人: | 王君,肖鹂 |
| 地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 确定 复位 方法 装置 | ||
1.一种确定复位类型的方法,其特征在于,该方法应用于一具有内存的电子设备,该内存包括校验区域,该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量,所述校验基准是通过对所述校验变量执行校验计算而获得的,所述方法包括:
当所述电子设备中发生复位时,读取所述校验区域中的校验变量和校验基准,对所述校验变量执行所述校验计算,而得到计算结果;
比较所述计算结果和所述校验基准,当所述计算结果不等于所述校验基准时,确定所述电子设备的复位类型是上电复位,当所述计算结果等于所述校验基准时,确定所述电子设备的复位类型是非上电复位;以及
当确定所述电子设备的复位类型是上电复位,向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准,以用于下一次的复位类型确定。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于,所述对所述校验变量执行所述校验计算包括:
对所述校验变量中的各个校验变量执行异或减一的计算。
3.根据权利要求2的方法,其特征在于,通过增加所述校验变量的数目来提高复位类型的确定准确度。
4.根据权利要求1的方法,其特征在于,所述电子设备还包括复位寄存器,所述方法还包括:
当所述电子设备中发生复位时,利用所述复位寄存器来确定电子设备的复位类型是否是软件复位;
在确定所述复位类型不是软件复位的情况下,执行所述读取、校验计算和确定操作以确定所述复位类型是上电复位还是非上电复位。
5.根据权利要求1的方法,其特征在于,所述电子设备还包括心跳寄存器,当确定所述复位类型是非上电复位时,所述方法还包括:
利用所述心跳寄存器来确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。
6.根据权利要求1的方法,其特征在于,所述内存是电子设备中的内存或与所述电子设备连接的内存。
7.一种电子设备,其特征在于,包括:
内存,包括校验区域,该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量,所述校验基准是通过对所述校验变量执行校验计算而获得的;
复位类型确定模块,包括:
计算单元,用于在所述电子设备中发生复位时,读取所述校验区域中的所述校验变量和校验基准,对所述校验变量的数据值执行所述校验计算,而得到计算结果;
第一确定单元,用于比较所述计算结果和所述校验基准,在所述计算结果不等于所述校验基准时、确定所述电子设备的复位类型是上电复位,在所述计算结果等于所述校验基准时、确定所述电子设备的复位类型是非上电复位;
赋值单元,用于在确定所述电子设备的复位类型是上电复位,向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准,以用于下一次的复位类型确定。
8.根据权利要求7的电子设备,其特征在于,所述计算单元通过对所述校验变量中的各个校验变量执行异或减一的计算来执行所述校验计算。
9.根据权利要求8的电子设备,其特征在于,通过增加所述校验变量的数目来提高复位类型的确定准确度。
10.根据权利要求7的电子设备,其特征在于,所述电子设备还包括复位寄存器,所述复位类型确定模块还包括:
第二确定单元,用于利用所述复位寄存器来确定电子设备的复位类型是否是软件复位;
其中,在第二确定单元确定所述复位类型不是软件复位的情况下,所述计算单元和所述第一确定单元进行操作以确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。
11.根据权利要求7的电子设备,其特征在于,所述电子设备还包括心跳寄存器,所述复位类型确定模块还包括:
第三确定单元,用于当第一确定单元确定所述复位类型是非上电复位时,利用所述心跳寄存器来确定所述电子设备的复位类型是上电复位还是非上电复位。
12.根据权利要求7的电子设备,其特征在于,所述内存是位于电子设备中的内存或与所述电子设备连接的内存。
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