[发明专利]用于母板老化的OLED布线方法

说明书

技术领域

本发明涉及OLED显示器件的生产工艺，具体的讲是用于母板老化的OLED布线方法。

背景技术

在OLED生产过程中使用母板老化技术时，必须使用到共通电极（即需要将单个OLED屏的阴极和阳极数据线分别连接到一起），目前的方法是每个屏使用各自独立的共通电极。这样的问题是使得封装盖板的开孔数量较多，并且老化检测工装探针的数量也较多，降低了OLED基板的利用率和生产效率，并且不利于产品的维护。

发明内容

针对上述的问题，本发明提供了一种用于母板老化的OLED布线方法，在母板老化的OLED布线时减少封装盖板的开孔数量和老化检测工装探针的数量，提高基板的利用率，降低生产成本。

本发明用于母板老化的OLED布线方法，包括：在对OLED母板布线时，以相邻的两行OLED屏为一组，将同组中同列的两个OLED屏的阳极和阴极分别相对设置并相互连通，使同组的两个OLED屏使用一个共通电极。这样使两个OLED屏用一个共通电极，相比传统的一个屏一个共通电极大幅度减少了共通电极的数量，在OLED的布线中这种连接的OLED屏组越多，封装盖板的开孔数量和老化检测工装探针的数量就减少的越明显。

优选的，将所有的OLED屏均以所述方式进行分组和连接。这样能够使得完成所有的OLED布线后封装盖板的开孔数量和老化检测工装探针的数量都减少为传统的一半。

具体的，所述阴极的各数据线之间通过涂布、曝光或蚀刻进行连接；所述阳极的各数据线之间通过蒸镀铝进行连接。就单屏而言，阴极包含了很多条数据线，需要利用涂布、曝光或蚀刻的方法将其连接到一个共通电极上；而阳极需要间隔连接，所以需要蒸镀铝才能进行连接。

本发明的用于母板老化的OLED布线方法，能够在母板老化的OLED布线时大幅度的减少封装盖板的开孔数量和老化检测工装探针的数量，有效的提高了基板的利用率，明显降低了生产成本。

以下结合实施例的具体实施方式，对本发明的上述内容再作进一步的详细说明。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实例。在不脱离本发明上述技术思想情况下，根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种替换或变更，均应包括在本发明的范围内。

具体实施方式

本发明用于母板老化的OLED布线方法，包括：在对OLED母板布线时，以相邻的两行OLED屏为一组，将同组中同列的两个OLED屏的阳极和阴极分别相对设置并相互连通，使同组的两个OLED屏使用一个共通电极。例如在OLED母板布线的时候，将第2行第1列的2-1号OLED屏调整方向，使得与第1行第1列的1-1号OLED屏的共通电极相对应并对应相连通.依次类推，OLED屏第1行第2列的1-2号OLED屏与第2行第2列的2-2号屏相对应，第3行第1列的3-1号屏与第4行第1列的4-1号屏相对应，其它行及列参考进行对应排列。从而减少共通电极使用的面积，从而提高基板利用率，所有的OLED屏均以所述方式进行分组和连接，这样能够使得封装盖板的开孔数量和老化检测工装探针的数量都减少为传统的一半。其中所述阴极的各数据线之间通过涂布、曝光或蚀刻进行连接；所述阳极的各数据线之间通过蒸镀铝进行连接。