[发明专利]基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置与方法无效

专利信息
申请号: 201210424240.5 申请日: 2012-10-30
公开(公告)号: CN102967258A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 钟志;单明广;郝本功;刁鸣;张雅彬;窦峥 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B9/04
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张宏威
地址: 150001 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 基于 同步 载频 共光路 干涉 显微 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,它包括光源(1),其特征在于,它还包括线偏振片(2)、准直扩束系统(3)、第一分光棱镜(4)、第二分光棱镜(5)、第一λ/4波片(6)、校正物镜(7)、显微物镜(8)、待测物体(9)、第二λ/4波片(10)、第三λ/4波片(11)、矩形窗口(12)、第一傅里叶透镜(13)、一维周期光栅(14)、第二傅里叶透镜(15)、偏振片组(16)、图像传感器(17)和计算机(18),其中λ为光源(1)发射光束的光波长,

光源(1)发射的光束经线偏振片(2)后入射至准直扩束系统(3)的光接收面,经准直扩束系统(3)准直扩束后的出射光束入射至第一分光棱镜(4),第一分光棱镜(4)的反射光束作为参考光束经第二λ/4波片(10)入射至矩形窗口(12);

第一分光棱镜(4)的透射光束经第二分光棱镜(5)透射后入射至第一λ/4波片(6),第一λ/4波片(6)的出射光束经由校正物镜(7)和显微物镜(8)入射至待测物体(9)并被反射,待测物体(9)的反射光束再经显微物镜(8)、校正物镜(7)和第一λ/4波片(6)入射至第二分光棱镜(5),第二分光棱镜(5)的反射光束作为物光束经第三λ/4波片(11)入射至矩形窗口(12);

并排汇合于矩形窗口(12)的物光束和参考光束入射至第一傅里叶透镜(13),经第一傅里叶透镜(13)汇聚后的出射光束通过一维周期光栅(14)后入射至第二傅里叶透镜(15),经第二傅里叶透镜(15)透射后的出射光束入射至偏振片组(16),该偏振片组(16)的出射光束由图像传感器(17)的光接收面接收,图像传感器(17)的信号输出端连接计算机(18)的图像信号输入端;

以第一傅里叶透镜(13)光轴的方向为z轴方向建立xyz三维直角坐标系,所述矩形窗口(12)沿垂直于光轴的方向设置,并且沿x轴方向均分为两个小窗口;

第二λ/4波片(10)和第三λ/4波片(11)与矩形窗口(12)平行设置、且第二λ/4波片(10)和第三λ/4波片(11)沿x轴方向并行等间距排布在同一平面内;

第一傅里叶透镜(13)和第二傅里叶透镜(15)的焦距均为f;

矩形窗口(12)位于第一傅里叶透镜(13)的前焦面上;一维周期光栅(14)位于第一傅里叶透镜(13)的后焦f-Δf处并且位于第二傅里叶透镜(15)的前焦f+Δf处,其中Δf为离焦量,Δf大于0并且小于f;

图像传感器(17)位于第二傅里叶透镜(15)的后焦面上;

一维周期光栅(14)的周期d与矩形窗口(12)沿x轴方向的宽度D之间满足关系:d=2λf/D。

2.根据权利要求1所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,其特征在于,第一分光棱镜(4)和第二分光棱镜(5)均为非偏振分光棱镜,第二λ/4波片(10)和第三λ/4波片(11)的快轴方向相同。

3.根据权利要求1所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,其特征在于,第一分光棱镜(4)和第二分光棱镜(5)均为偏振分光棱镜,第二λ/4波片(10)和第三λ/4波片(11)的快轴方向相互垂直。

4.根据权利要求1所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,其特征在于,第二λ/4波片(10)的快轴沿与x轴呈45°角的方向放置,第三λ/4波片(11)的快轴沿与x轴呈-45°角的方向放置。

5.根据权利要求1至4任一权利要求所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,其特征在于,一维周期光栅(14)为二值一维周期光栅、正弦一维周期光栅或余弦一维周期光栅。

6.根据权利要求1所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,其特征在于,偏振片组(16)由两片偏振片组成,该两片偏振片形成1×2阵列,该两片偏振片的透光轴与x轴分别呈0°和45°。

7.根据权利要求1所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置,其特征在于,线偏振片(2)的透光轴与x轴呈45°角。

8.一种基于权利要求1所述基于同步载频移相的共光路干涉显微检测装置的检测方法,其特征在于:它的实现过程如下:

打开光源(1),使光源(1)发射的光束经线偏振片(2)和准直扩束系统(3)的准直扩束后形成平行偏振光后,入射至第一分光棱镜(4),经第一分光棱镜(4)反射与透射后最终分别形成参考光束和物光束汇合至矩形窗口(12),并排汇合于矩形窗口(12)的参考光束和物光束再依次通过第一傅里叶透镜(13)、一维周期光栅(14)、第二傅里叶透镜(15)和偏振片组(16),偏振片组(16)出射的偏振光束在图像传感器(17)平面上产生干涉图样,

将计算机(18)将采集获得的干涉图样根据矩形窗口(12)的小窗口的尺寸分割获得两幅干涉图样,通过计算得到待测物体(9)的相位分布

其中,O'为待测物体的复振幅分布,Im()表示取虚部,Re()表示取实部,

O'=FT-1{FT{(I1-I2)·RE}·HW},

其中,FT表示傅里叶变换,FT-1表示逆傅里叶变换,HW为低通滤波器的传递函数,RE为根据一维周期光栅(14)的离焦量Δf得到的数字参考波函数RE(x,y):RE(x,y)=exp(-i2πxΔf/f/d),

I1为由偏振片组(16)中一片偏振片滤波得到的干涉图强度分布,该偏振片的透光轴与x轴呈0°,I2为由偏振片组(14)中另一片偏振片滤波得到的干涉图强度分布,该另一片偏振片的透光轴与x轴呈45°,

I1(x,y)=|R|2+|O|2+R*O+RO*

I2(x,y)=|R|2+|O|2+exp(-iα)R*O+exp(iα)RO*

其中,R表示参考光,R*表示R的复共轭,O表示物光,O*表示O的复共轭,α=π/2为载波相移量。

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