[发明专利]硅麦克风的测试装置有效
| 申请号： | 201210413849.2 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103781010A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 叶菁华 | 申请（专利权）人： | 上海耐普微电子有限公司;钰太科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04R29/00 | 分类号： | H04R29/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 高磊 |
| 地址： | 201204 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 麦克风 测试 装置 | ||
1.一种硅麦克风的测试装置，其中，所述硅麦克风包括：声孔及第一端口，其特征在于，所述测试装置至少包括：
上端开口的测试腔体；
位于所述测试腔体底部的发声器，用于向所述声孔提供声音信号；
具有第二端口的测试单元，与所述发声器具有间隔、且至少一侧设置于所述测试腔体的内壁上，用于基于所述发声器输出的声音信号来测试所述硅麦克风的工作信息；其中，所述第二端口对应连接所述第一端口；以及
与所述测试腔体上端连接的反射盖，用于将所述发生器输出的声音信号予以反射。
2.根据权利要求1所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述测试腔体竖直设置。
3.根据权利要求2所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述第二端口位于所述测试单元的下侧。
4.根据权利要求3所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述测试单元与所述发声器的间隔大于所述硅麦克风的厚度。
5.根据权利要求1所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述第一端口为探针，所述第二端口为相对应的探针通道。
6.根据权利要求1所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述测试腔体的上端与所述反射盖的连接处还设有密封圈。
7.根据权利要求1或6所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述反射盖与所述测试腔体的连接方式至少包括：卡扣连接、螺纹连接。
8.根据权利要求1所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述反射盖上部为弧形。
9.根据权利要求8所述的硅麦克风的测试装置，其特征在于，所述反射盖的上部的弧形为抛物线形、或半圆形。
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