[发明专利]近接感测方法及装置

权利要求书

1.一种近接感测方法，其预设相邻的一第一发光元件及一光传感器，以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件，其特征在于：

该方法包括：

(A)令该第一发光元件发射一第一光信号，使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号；

(B)判断该第一反射光信号的强度是否大于一第一临界值，若是，判定有物体接近；

(C)再判断该第一反射光信号的强度是否大于一第二临界值，若否，令该第二发光元件发射一第二光信号，使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号，其中该第二临界值小于或等于该第一临界值；及

(D)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一第三临界值，若是，判定有物体接近。

2.如权利要求1所述的近接感测方法，其特征在于：在步骤(B)中，当判断该第一反射光信号的强度小于或等于该第一临界值，则判定没有物体接近。

3.如权利要求1或2所述的近接感测方法，其特征在于：在步骤(D)中，当判断该比值小于或等于该第三临界值，则判定没有物体接近。

4.如权利要求3所述的近接感测方法，其特征在于：在步骤(D)中，当判断该比值小于或等于该第三临界值，则关闭该第二发光元件。

5.如权利要求1所述的近接感测方法，其特征在于：在步骤(D)中，该第一发光元件及该第二发光元件是交错地发射该第一光信号及第二光信号或是同时以不同的频率发射该第一光信号及第二光信号。

6.一种近接感测方法，其预设相邻的一第一发光元件及一光传感器，以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件，其特征在于：

该方法包括：

(A)令该第一发光元件发射一第一光信号，使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号；

(B)判断该第一反射光信号的强度是否大于一临界值，若是，判定有物体接近，并令该第二发光元件发射一第二光信号，使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号；及

(C)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一预设值，若是，判定有物体接近，否则判定没有物体接近。

7.一种近接感测方法，其预设相邻的一第一发光元件及一光传感器，以及一与该光传感器间隔一预定距离的第二发光元件，其特征在于：

该方法包括：

(A)令该第一发光元件与该第二发光元件交错地发射一第一光信号及一第二光信号，使该光传感器分别感测该第一光信号的一第一反射光信号，以及感测该第二光信号的一第二反射光信号；及

(B)判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值是否大于一预设值，若是，判定有物体接近，否则判定没有物体接近。

8.一种近接感测装置，其特征在于：

该近接感测装置包括：

一第一发光元件；

一光传感器，与该第一发光元件相邻；

一第二发光元件，与该光传感器间隔一预定距离；

一控制器，控制该第一发光元件发射一第一光信号，使该光传感器感测该第一光信号的一第一反射光信号；及

一处理器，判断该第一反射光信号的强度大于一第一临界值时，判定有物体接近，并在后续判断该第一反射光信号的强度小于或等于一第二临界值时，令该控制器控制该第二发光元件发射一第二光信号，使该光传感器感测该第二光信号的一第二反射光信号，且该处理器判断该第一反射光信号的强度与该第二反射光信号的强度的一比值大于一第三临界值时，则判定有物体接近；其中该第二临界值小于或等于该第一临界值。

9.如权利要求8所述的近接感测装置，其特征在于：该处理器一开始判断该第一反射光信号的强度小于或等于该第一临界值时，则判定没有物体接近。

10.如权利要求8或9所述的近接感测装置，其特征在于：该处理器判断该比值小于或等于该第三临界值，则判定没有物体接近。

11.如权利要求10所述的近接感测装置，其特征在于：该处理器判断该比值小于或等于该第三临界值，则令该控制器关闭该第二发光元件。

12.如权利要求8所述的近接感测装置，其特征在于：当该第二发光元件发射该第二光信号时，该控制器控制该第一发光元件及该第二发光元件交错发射该第一光信号及该第二光信号。