[发明专利]结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置及其方法在审
申请号: | 201210394925.X | 申请日: | 2012-10-17 |
公开(公告)号: | CN103778968A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 蓝建宏;张裕顺 | 申请(专利权)人: | 太和科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;李涵 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结合 多张快闪 记忆 固态 硬盘 检测 装置 及其 方法 | ||
1.一种结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,包括:
一中央处理器;
一控制单元,电性连接所述中央处理器,并接受所述中央处理器的控制;
多个快闪记忆卡插槽,电性连接所述控制单元,并供插入多个快闪记忆卡,以供所述控制单元读取所述多个快闪记忆卡的参数,所述控制单元并将所述快闪记忆卡的参数回报于所述中央处理器,以判断所述多个快闪记忆卡的状态;以及
至少一状态显示单元,电性连接所述中央处理器,并受所述中央处理器控制以显示每一所述快闪记忆卡的状态。
2.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述显示单元为多个发光元件,每一所述发光元件并对应设置于每一所述快闪记忆卡插槽,每一所述发光单元并根据所述中央处理器控制,以显示所述快闪记忆卡的状态。
3.根据权利要求2所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述发光元件为发光二极管。
4.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述显示单元为液晶屏幕。
5.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,更包括至少一传输介面,以与一电脑电性连接并传输数据,使所述电脑显示所述多个快闪记忆卡的状态。
6.根据权利要求5所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述传输单元为通用序列总线或串行ATA。
7.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,更包括一可程序化只读存储器,电性连接所述中央处理器。
8.根据权利要求5所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,更包括一直接存储器存取控制单元,电性连接所述中央处理器,使所述直接存储器存取控制单元控制存取所述电脑内的直接存储器存取控。
9.根据权利要求5所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,更包括一随机存取存储器控制单元,电性连接所述中央处理器,使所述随机存取存储器控制单元控制存取所述电脑内的随机存取存储器。
10.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述控制单元用以读取每一所述快闪记忆卡内的备份区、保留区以及使用者自定暂存器。
11.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述控制单元读取的参数为清除码以判断所述多个快闪记忆卡的使用寿命。
12.根据权利要求1所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测装置,其特征在于,所述控制单元读取的参数为错误校正码、程序/抹除状态、循环冗余校验、奇偶校验、客户自定、坏块数,以判断所述多个快闪记忆卡的状态。
13.一种结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测方法,其特征在于,包括下列步骤:
A.读取多个快闪记忆卡,并将所述多个快闪记忆卡的规格回传,以分辨所述多个快闪记忆卡的规格;
B.读取所述多个快闪记忆卡的参数,并将所述多个快闪记忆卡的参数回传,以判断所述多个快闪记忆卡的状态;以及
C.根据所述多个快闪记忆卡的状态发出一显示信号,以显示所述多个快闪记忆卡的状态,并继续回复执行B步骤。
14.根据权利要求13所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测方法,其特征在于,所述步骤C的所述显示信号是根据每一所述快闪记忆卡的状态,发出不同颜色的光线。
15.根据权利要求14所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测方法,其特征在于,所述快闪记忆卡的状态为正常状态,则发出绿光,所述快闪记忆卡的状态为需要备份,则发出黄光,所述快闪记忆卡的状态为故障,则发出红光。
16.根据权利要求13所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测方法,其特征在于,所述步骤B是用以读取每一所述快闪记忆卡内的备份区、保留区以及使用者自定暂存器。
17.根据权利要求13所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测方法,其特征在于,所述步骤B是用以读取清除码以判断所述多个快闪记忆卡的使用寿命。
18.根据权利要求13所述的结合多张快闪记忆卡的固态硬盘的检测方法,其特征在于,所述步骤B是用以读取错误校正码、程序状态、循环冗余校验、奇偶校验、客户自定、坏块数,以判断所述多个快闪记忆卡的状态。
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