[发明专利]一管式共用引物法检测同一突变位点不同突变类型

权利要求书

1.本发明基于LAMP（环介导恒温扩增检测）技术的一管式检测同一突变位点不同突变类型的方法或理论，其特征在于：通过在环介导等温扩增检测试剂盒探针设计，对于同一突变点的不同突变类型，只改变覆盖突变点处的引物，覆盖其它位点的引物不变（加入数量也不变），这样保证了，突变点的引物与其它点位的引物之间不发生交叉反应，只需要验证覆盖同一突变点不同突变类型处的引物之间是否发生交叉反应即可，那么覆盖此处这引物只有一到两个碱基不同，也不会发生反应，这就是本检测方式的理论基础。

2.根据权利1要求我们保护的是LAMP技术一管式检测同一突变位点不同突变类型，是我们首次提出基于LAMP技术对不同基因类型的检测，只要是一管式检测不同基因突变类型都在我们的保护范围。

3.我们同时保护也是LAMP技术一管式检测同一突变位点不同突变类型的理论和方法。

4.根据权利要求1所述本技术也可以向检测不同突变位点延伸，本技术是同时检测多个突变位点的基础，多个位点引物设计除覆盖突变位点的其它引物尽量设计共用引物，避免交叉反应。

5.此方法主要应用于各种突变耐药基因（如肺结核、乙肝、艾滋病等）的检测，同时也可用于同一位点是否存在不同有效基因形式的检测。