[发明专利]分析方法

说明书

本申请是中国专利申请，申请号200880014595.9，的分案申请。

与相关申请的交叉引用

本申请要求2007年5月3日提交的美国申请No. 60/915,884，以及2008年3月14日提交的美国申请No. 61/036,537的优先权，上述每个申请在此以其全文引为参考。

 

本申请涉及2006年9月22日提交的美国临时申请60/826,678、2005年5月6日提交的国际专利申请PCT/EP2005/004923的美国连续案，它指定为美国，并要求2004年5月6日提交的德国专利申请DE 10 2004 022 263、2006年11月6日提交的序列号为no.11/593,021的美国连续案、2006年11月6日提交的国际专利申请PCT/EP2006/068153和EP06/068155的优先权，后者指定为美国，并要求2005年11月4日提交的德国专利申请DE 10 2005 052 752、2006年11月6日提交的国际申请、以及2006年11月22日提交的美国临时申请60/867,019的优先权。每个上述申请在此引为参考。

技术领域

本发明涉及分析方法（例如分析样品中的一种或多种被分析物）。

背景技术

可以进行分析以确定样品中一种或多种被分析物的存在。阵列可用于对样品进行多重分析（例如对于多种不同被分析物中的每种进行分析）。典型的阵列包括具有多个空间分隔开的测试区的基质，每个测试区具有不同的探针化合物，例如多核苷酸、抗体或蛋白。在使用中，将阵列与样品接触，然后样品与阵列的位点相互作用。对于每个位点来说，相互作用可以包括例如相应的被分析物与位点的探针化合物的结合，和/或相应的被分析物与探针化合物之间的化学反应。反应产生可检测的产物（例如沉淀）。相互作用的存在和程度取决于样品中是否存在相应的被分析物。

 典型情况下，相互作用通过光学方法检测（例如通过荧光）。例如，可以使用成像检测器（例如CCD）进行光学检测，成像检测器在至少一个（例如两个）维度上具有多个彼此分隔开的光敏元件（例如像素）。每个光敏元件被定位，以接收来自基质的不同空间位置的光。因此，由多个光敏元件同时检测到的光可以组合起来，形成基质的至少一个（例如两个）维度上的图像数据。可以对图像数据进行评估，以确定阵列的多个位点上相互作用的存在和/或程度。

发明内容

本发明涉及分析方法（例如分析样品中的多种被分析物）。

在一种情况下，方法包括：

将空间分隔的测试区的阵列与液体样品相接触，测试区布置在微流体装置的第一基质的内表面与第二基质的内表面之间，至少一个基质是挠性的，每个测试区含有探针化合物，探针化合物被构造用于参与靶被分析物的分析。

在对应于测试区的位置减小第一和第二基质的内表面之间的距离，以及

在相应位置处内表面之间的距离被减小的多个测试区中的每个测试区上，连续地光学测定相互作用的存在，每个测试区上的相互作用指示了样品中靶被分析物的存在。

方法可以进一步包括，对于多个测试区中的每个，根据光学测定的相互作用确定相应被分析物的存在。

对于至少某些测试区中的每个来说，多个测试区的每个上的相互作用，可以是被分析物与测试区的探针化合物之间的结合反应。

光学测定可以包括使用零阶检测器检测来自每个测试区的光。

使用零阶检测器检测来自每个测试区的光，可以基本上由使用零阶检测器检测光构成。

对于第一和第二基质的内表面之间的距离被减小的多个位置中的每个位置来说，方法可以进一步包括在测试区进行光学测定的步骤之后，随后增加内表面之间的距离。

减小距离可以包括在对应于测试区的位置连续地减小第一和第二基质的内表面之间的距离。在该实施方案中，对于第一和第二基质的内表面之间的距离被减小的多个位置中的每个位置来说，方法可以进一步包括在测试区光学测定结合的步骤之后，随后增加内表面之间的距离。

光学测定可以包括连续地检测在相应位置处内表面之间的距离被减小的多个测试区中的每个上的相互作用。在一个实施方案中，光学检测包括同时检测来自不超过N个测试区的光，其中N≤5，或N≤3，或N=1。或者，光学检测包括使用零阶检测器检测来自每个测试区的光。使用零阶检测器检测来自每个测试区的光，可以基本上由使用零阶检测器检测光构成。